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J-GLOBAL ID:200903060893569888

半導体素子およびその製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 宮園 博一
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004027477
Publication number (International publication number):2004260152
Application date: Feb. 04, 2004
Publication date: Sep. 16, 2004
Summary:
【課題】素子の動作を安定化することが可能な半導体素子を提供する。【解決手段】この半導体素子は、少なくとも裏面の一部に転位の集中している領域8を有するn型GaN基板1と、n型GaN基板1の表面上に形成された窒化物系半導体各層(2〜6)と、転位の集中している領域8上に形成された絶縁膜12と、転位の集中している領域8以外のn型GaN基板1の裏面の領域に接触するように形成されたn側電極13とを備えている。【選択図】図1
Claim (excerpt):
少なくとも裏面の一部に転位の集中している裏面領域を有する基板と、 前記基板の表面上に形成された半導体素子層と、 前記転位の集中している前記裏面領域上に形成された絶縁膜と、 前記転位の集中している前記裏面領域以外の前記基板の裏面の領域に接触するように形成された裏面側電極とを備えた、半導体素子。
IPC (4):
H01S5/042 ,  H01L21/28 ,  H01L33/00 ,  H01S5/343
FI (5):
H01S5/042 612 ,  H01L21/28 301B ,  H01L33/00 C ,  H01L33/00 E ,  H01S5/343 610
F-Term (33):
4M104AA04 ,  4M104BB02 ,  4M104BB06 ,  4M104CC01 ,  4M104DD71 ,  4M104FF02 ,  4M104FF03 ,  4M104FF09 ,  4M104FF13 ,  4M104GG04 ,  5F041AA09 ,  5F041CA04 ,  5F041CA05 ,  5F041CA13 ,  5F041CA40 ,  5F041CA65 ,  5F041CA84 ,  5F041CA88 ,  5F073AA13 ,  5F073AA45 ,  5F073AA61 ,  5F073AA74 ,  5F073CB02 ,  5F073CB22 ,  5F073DA05 ,  5F073DA14 ,  5F073DA30 ,  5F073DA35 ,  5F073EA15 ,  5F073FA02 ,  5F073FA11 ,  5F073FA27 ,  5F073FA29
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1) Cited by examiner (10)
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