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J-GLOBAL ID:200903063506397186

集積型薄膜太陽電池の評価装置および評価方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003032002
Publication number (International publication number):2004247325
Application date: Feb. 10, 2003
Publication date: Sep. 02, 2004
Summary:
【課題】集積型薄膜太陽電池の内部の特性ばらつきや局部的な欠陥を検出できるようにする。【解決手段】暗ボックス1内には、集積型薄膜太陽電池5が載置されるステージ2が設置されており、ステージ2上には、集積型薄膜太陽電池5上をライン状に照射することのできるライン構造光源4が、ステップ駆動部3によりステップ移動できるように設置されている。ライン構造光源4の長手方向は、集積型薄膜太陽電池のセルの直列接続方向である。ライン構造光源4は、ステップ駆動部3により、太陽電池受光面の端から端までステップ状に送られ、ライン構造光源4の停止位置毎に集積型薄膜太陽電池5の光照射部分の電流-電圧特性が測定される。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
短冊状のセルが直列に接続された集積型薄膜太陽電池を載置する載置台と、前記集積型薄膜太陽電池上を照射する、セルの直列接続方向に長いライン状の光源と、前記光源に照射された前記集積型薄膜太陽電池の光-電気特性を測定する測定器と、を備えたことを特徴とする集積型薄膜太陽電池の評価装置。
IPC (2):
H01L31/04 ,  G01R31/26
FI (2):
H01L31/04 K ,  G01R31/26 F
F-Term (11):
2G003AA06 ,  2G003AB01 ,  2G003AG11 ,  2G003AH10 ,  5F051AA09 ,  5F051AA10 ,  5F051BA05 ,  5F051BA14 ,  5F051BA17 ,  5F051KA09 ,  5F051KA10
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (12)
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