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J-GLOBAL ID：200903063978888566

不揮発メモリを使用したディスク制御装置

Inventor：
阿部 哲也

About 阿部 哲也


Applicant, Patent owner：
株式会社日立製作所

About 株式会社日立製作所


Agent (3)： 小川 勝男 ,  田中 恭助 ,  佐々木 孝
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002178537
Publication number (International publication number)：2004021811
Application date： Jun. 19, 2002
Publication date： Jan. 22, 2004
Summary：
【課題】ディスク制御装置に用いられる半導体記憶装置、ディスク装置の交替媒体として、半導体不揮発メモリを利用できるようにし、その特性を生かした実装をおこなうことにより、ディスク制御装置自体の性能、保守性、信頼性を向上させるようにする。【解決手段】不揮発メモリ部を、実データ格納デバイス、予備用の格納デバイス、パリティ冗長データ用デバイスの三種のメモリモジュールからなるようにし、並列に実装して構成する。そして、それぞれのデバイスに、最小ブロック単位ごとにデータを保持させ、ブロック毎の予備情報として、更新情報、保護コードを設け、不揮発メモリデバイスの障害や不良を監視する。不揮発メモリ部は、メモリデバイスの分割されたブロックごとに、リードプロテクト、ライトプロテクトを可能にし、不良ブロックを発見する診断リライト機能を持たせる。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
ホストインタフェース部と、ディスクインターフェース部と、ホストとディスクとでやり取りされるデータを一時的に保持するキャッシュ部と、不揮発メモリとを備える不揮発メモリを使用したディスク制御装置において、 前記不揮発メモリ部は、 実データ格納デバイス、予備用の格納デバイス、実データのパリティ冗長データが格納されるパリティ冗長データ用デバイスの三種の不揮発メモリデバイスからなるメモリモジュールを含み、 しかも、これらの不揮発メモリデバイスは、並列に実装して構成され、 それぞれの不揮発メモリデバイスには、最小ブロック単位ごとにデータを保持し、 前記最小ブロック単位は、実データと、論理管理IDと、そのブロックの良、不良を判定するための保護コードとを含むことを特徴とする不揮発メモリを使用したディスク制御装置。
IPC (6)：
G06F12/08 ,  G06F3/06 ,  G06F3/08 ,  G06F12/16 ,  G11B20/10 ,  G11B20/18
FI (10)：
G06F12/08 557 ,  G06F12/08 511Z ,  G06F12/08 541Z ,  G06F3/06 305C ,  G06F3/08 H ,  G06F12/16 310A ,  G06F12/16 320L ,  G06F12/16 330C ,  G11B20/10 301Z ,  G11B20/18 552A
F-Term (33)：
5B005JJ01 ,  5B005MM12 ,  5B005VV11 ,  5B005WW02 ,  5B005WW03 ,  5B018GA02 ,  5B018GA04 ,  5B018HA01 ,  5B018HA12 ,  5B018HA23 ,  5B018HA26 ,  5B018HA35 ,  5B018JA21 ,  5B018KA13 ,  5B018MA22 ,  5B018NA06 ,  5B018QA04 ,  5B018RA03 ,  5B065BA01 ,  5B065BA05 ,  5B065CC03 ,  5B065CC08 ,  5B065CE11 ,  5B065CH01 ,  5B065CH13 ,  5D044AB01 ,  5D044CC08 ,  5D044DE12 ,  5D044DE63 ,  5D044DE69 ,  5D044GK05 ,  5D044GK12 ,  5D044GK19
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (17)
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