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J-GLOBAL ID：200903064373577433

雑音スペクトル推定方法、雑音抑圧方法及び雑音抑圧装置

Inventor：
風間 道子

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東山 三樹夫

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櫛田 孝司

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Applicant, Patent owner：
学校法人早稲田大学

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ヤマハ株式会社

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Agent (1)： 松本 隆
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006031909
Publication number (International publication number)：2007212704
Application date： Feb. 09, 2006
Publication date： Aug. 23, 2007
Summary：
【課題】雑音変動追従性が良好な雑音推定を可能にする。【解決手段】算出部50では、現フレームの雑音スペクトルを|N(k)|、前フレームの雑音スペクトルを|No(k)|、現フレームの入力スペクトルを|X(k)|、現フレームの512サンプル,4096サンプルの入力スペクトルをそれぞれ|X1(k)|,|X2(k)|、|X2(k)|,|No(k)|のスペクトル包絡の相関値をρ、|N(k)|更新制御値をxとすると、|N(k)|=|No(k)|・(1-ρx)+|X(k)|・ρxなる式で|N(k)|を推定する。算出部60では|No(k)|に基づき平均雑音パワーPnを求め、算出部62では512サンプルDbに基づいて平均音パワーPbを求める。Pn>Pb以外では|X(k)|=|X2(k)|,x=13.5とし、Pn>Pbならば|X(k)|=|X1(k)|,x=1とし、Pn<Pbならばx=7とする。【選択図】図3
Claim (excerpt)：
入力音波形のサンプル列を比較的短い第1のフレーム長で切り出して現フレームの第1のサンプル列を得るステップと、 前記入力音波形のサンプル列を比較的長い第2のフレーム長で前記現フレームより前に切り出して前フレームの第2のサンプル列を得た後、前記入力音波形のサンプル列を前記第2のフレーム長で前記現フレームに同期して切り出して現フレームの第2のサンプル列を得るステップと、 前記現フレームの第1のサンプル列を周波数分析して現フレームの第1のスペクトルを得るステップと、 前記前フレームの第2のサンプル列を周波数分析して前フレームの第2のスペクトルを得た後、前記現フレームの第2のサンプル列を周波数分析して現フレームの第2のスペクトルを得るステップと、 前記前フレームの第2のスペクトルに基づいて前フレームの雑音スペクトルを推定するステップと、 前記前フレームの雑音スペクトルに基づいて前フレーム内の平均雑音パワーを算出するステップと、 前記現フレームの第1及び第2のサンプル列のうちのいずれか一方のサンプル列に基づいて現フレーム内の平均音パワーを算出するステップと、 前記前フレームの雑音スペクトルに基づいて現フレームの雑音スペクトルを推定するステップと、 前記平均雑音パワーと前記平均音パワーとを比較し、その比較結果に応じて前記現フレームの雑音スペクトルの推定態様を制御するステップと を含む雑音スペクトル推定方法。
IPC (1)：
G10L 21/02
FI (2)：
G10L21/02 101B ,  G10L21/02 101A
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3)
  • ノイズ除去装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-154965   Applicant：株式会社神戸製鋼所
  • 音声認識装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-197744   Applicant：株式会社豊田中央研究所
  • 音声認識方法及び音声認識装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-020303   Applicant：株式会社豊田中央研究所
Cited by examiner (6)
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