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J-GLOBAL ID：200903065680543895

飛行時間型質量分析装置

Inventor：
上野 良弘

About 上野 良弘


Applicant, Patent owner：
株式会社島津製作所

About 株式会社島津製作所


Agent (1)： 小林 良平
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005338593
Publication number (International publication number)：2007149372
Application date： Nov. 24, 2005
Publication date： Jun. 14, 2007
Summary：
【課題】複数の扇形電場により形成される周回軌道に沿ってイオンが飛行する飛行時間型質量分析装置において、簡単な構造で以てイオンを周回毎に電場の軸方向に偏向させて螺旋状の軌道を形成する。【解決手段】扇形電場E1、E2を形成する円筒電極11、12の間に、扇形電場の軸方向(Y軸方向)にイオンをずらすような偏向磁場B1を発生させるための一対の平板磁極15a、15bを互いに平行に配置する。イオンが各周回毎に偏向磁場B1を通過する際に電荷を有するイオンは磁場の作用によるローレンツ力を受け、その軌道はY軸方向に屈曲される。この構成では、周回数に拘わらずイオン軌道Pを挟んで一対の磁極を配置しさえすればよいので、電場により偏向させる場合に比べて構造が簡単になる。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
イオンを周回飛行させるようにイオンの飛行経路に沿った複数の扇形電場を形成するイオン光学系を具備する飛行時間型質量分析装置において、 前記複数の扇形電場の中で隣接する2つの電場の間に、通過するイオンの軌道を該電場の軸方向にずらす偏向磁場を形成する磁場形成手段を備えることを特徴とする飛行時間型質量分析装置。
IPC (2)：
H01J 49/40 ,  G01N 27/62
FI (2)：
H01J49/40 ,  G01N27/62 K
F-Term (3)：
2G041CA01 ,  2G041GA06 ,  2G041GA29
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2) Cited by examiner (6)
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