Pat
J-GLOBAL ID:200903080629189318
テスト項目自動生成システム及びテスト項目自動生成方法並びにプログラムを記録した機械可読記録媒体
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
境 廣巳
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000057970
Publication number (International publication number):2001243090
Application date: Feb. 29, 2000
Publication date: Sep. 07, 2001
Summary:
【要約】【課題】 テスト対象とするソフトウェアに関する設計上の情報を組み合わせて得られるテスト項目候補に対してテスト項目の数を実施可能な範囲に調整する。【解決手段】 設計データ入力手段101 より入力された設計データと設定値決定指示入力手段103 より入力された設定値決定指示とに基づいて、設定値決定手段105 が、設計データで定義されている各データそれぞれに対して、テスト実施に利用する値である設定値を決定する。設定値決定手段105 により決定された設計データで定義されている各データの設定値と、組み合わせ決定指示入力手段107より入力された組み合わせ決定指示とに基づいて、組み合わせ決定手段109 が、設計データで定義されている各データの設定値の組み合わせを決定する。テスト項目生成手段111 は、組み合わせ決定手段109 が決定した組み合わせに基づいてテスト項目を生成する。
Claim (excerpt):
テスト対象となるソフトウェアが入力可能な複数のデータそれぞれの定義を示す設計データを入力する設計データ入力手段と、前記設計データによって定義されている各データそれぞれに対して、テスト実施に利用する値或いはテスト実施に利用する値を特定するための条件を指示する設定値決定指示を入力する設定値決定指示入力手段と、前記設計データ入力手段より入力された設計データと前記設定値決定指示入力手段より入力された設定値決定指示とに基づいて、前記設計データで定義されている各データそれぞれに対して、テスト実施に利用する値である設定値を決定する設定値決定手段と、前記設計データによって定義されている各データの設定値の組み合わせ方法を指示する組み合わせ決定指示を入力する組み合わせ決定指示入力手段と、前記設定値決定手段により決定された前記設計データで定義されている各データの設定値と前記組み合わせ決定指示入力手段より入力された組み合わせ決定指示とに基づいて前記設計データで定義されている各データの設定値の組み合わせを決定する組み合わせ決定手段と、該組み合わせ決定手段で決定された組み合わせに基づいてテスト項目を生成するテスト項目生成手段とを備えたことを特徴とするテスト項目自動生成システム。
IPC (2):
G06F 11/28 340
, G06F 9/06 540
FI (2):
G06F 11/28 340 A
, G06F 9/06 540 U
F-Term (7):
5B042GA21
, 5B042HH12
, 5B042HH17
, 5B042NN21
, 5B042NN33
, 5B042NN45
, 5B076EC05
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (11)
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特開平3-262050
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データ型対応の自動テスト方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-198154
Applicant:株式会社日立製作所
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自動テスト方法および自動テスト装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-240082
Applicant:松下電器産業株式会社
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相互作用のある要素を有するシステムのための効率的なテスト・ケースの自動生成方法およびシステム
Gazette classification:公表公報
Application number:特願平8-512765
Applicant:ベルコミュニケーションズリサーチ,インコーポレイテッド
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計算機プログラム部品のテスト支援装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-223817
Applicant:株式会社東芝
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自動検査項目作成ツール
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-211706
Applicant:沖電気工業株式会社
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特開平4-084322
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データ処理試験装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-156861
Applicant:株式会社東芝
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テスト仕様生成装置および方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-169048
Applicant:松下電器産業株式会社
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プログラムのテストシステム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-310335
Applicant:日本電気株式会社, 日本電気ホームエレクトロニクス株式会社
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開発管理方式
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-275044
Applicant:株式会社日立製作所, 日立コンピユータエンジニアリング株式会社
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