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J-GLOBAL ID:200903086061226114

酸化セリウム研磨剤及び基板の研磨法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 若林 邦彦
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997112396
Publication number (International publication number):1998298538
Application date: Apr. 30, 1997
Publication date: Nov. 10, 1998
Summary:
【要約】【課題】 SiO2絶縁膜等の被研磨面を傷なく高速に研磨する酸化セリウム研磨剤を提供する。【解決手段】 TEOS-CVD法で作製したSiO2絶縁膜を形成させたSiウエハを、電子顕微鏡による観察で粒子径が20nm以上1500nm以下である粒子が全数の90%以上、または 電子顕微鏡による観察で粒子径が100nm以上1500nm以下である粒子が全体積の90%以上である酸化セリウム粒子を媒体に分散させたスラリー研磨剤で研磨する。
Claim (excerpt):
電子顕微鏡による観察で粒子径が20nm以上1500nm以下である粒子が全数の90%以上である酸化セリウム粒子を媒体に分散させたスラリーを含む酸化セリウム研磨剤。
IPC (5):
C09K 3/14 550 ,  B24B 37/00 ,  C09C 1/68 ,  H01L 21/304 321 ,  C01F 17/00
FI (5):
C09K 3/14 550 D ,  B24B 37/00 H ,  C09C 1/68 ,  H01L 21/304 321 P ,  C01F 17/00 A
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (14)
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