光学特性測定装置

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：橋爪健
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001119086
Publication number (International publication number)：2002209854
Application date： Apr. 18, 2001
Publication date： Jul. 30, 2002
Summary：

【要約】 (修正有)【課題】測定データ、測定結果に対応する画像データ及び/又は数値データをまとめて、又は、選択的に表示する。【解決手段】光学特性測定装置100は、例えば、対象物である被測定眼60の光学特性を測定・表示する装置である。第1照明光学系10は、被測定眼60に所定パターンの光束を照射する第1光源部11を含む。第1受光光学系20は、被測定眼60からの反射光を受光する第1受光部23を含む。送受光光学系30は、アライメント調整を主に行うものであって、被測定眼60からの反射光を受光する第2受光部35を含む。共通光学系40は、第1照明光学系10から発せられる光束の光軸上に配され、第1照明光学系10、第1受光光学系20及び送受光光学系30に共通に含まれる。演算部は、第1受光部23及び第2受光部35からの受光信号に基づき演算を行う。表示部は、測定データと測定結果とをグラフィック表示する。

Claim (excerpt)：

被測定眼に所定パターンの光束を照射する光源部を含む照射光学系と、被測定眼からの反射光を受光する受光部を含む受光光学系と、上記受光部からの測定データを示す受光信号に基づき、測定結果をグラフィック表示となるように演算する演算部と、上記受光信号に基づいた測定データと、上記演算部で求められた測定結果とを、グラフィック表示する表示部とを備えた光学特性測定装置。

FI (4)：

A61B 3/10 Z , A61B 3/10 H , A61B 3/10 M , A61B 3/10 R

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (11)

市松模様のプラシード装置及び方法
Gazette classification：公表公報 Application number：特願平6-500870 Applicant：アイシス・テクノロジーズ,インコーポレイテッド
光学特性測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-327098 Applicant：株式会社トプコン
光学特性測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-146562 Applicant：株式会社トプコン

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