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J-GLOBAL ID：200903092344492864
質量分析装置用データ処理装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (2)：
作田 康夫
, 井上 学
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004009977
Publication number (International publication number)：2005201835
Application date： Jan. 19, 2004
Publication date： Jul. 28, 2005
Summary：
【課題】 MSn スペクトルのデータベース検索において、データベース内の既知化合物と測定した未知化合物の全構造が一致しなくとも、主鎖が一致する既知化合物を検索することを可能にし、全構造の解析を容易にする。【解決手段】未知試料のMSn 測定で得られたMSn スペクトルについて、MSn の世代に関わらずデータベース内のMSm スペクトル(m≧1)全てと比較する。【効果】 生体高分子のような同一の主鎖に種々の異なる側鎖を擁した一連の関連化合物のMSn測定において、全体構造が判らなくてもデータベース検索により主鎖の構造を明らかにすることが可能になる。更に、この主鎖構造に基づいた全体構造の推測が可能になる。【選択図】図5
Claim (excerpt)：
イオン化された試料のMSn 分析を行うことが可能であり、既知化合物のMSn 分析の結果得られたマススペクトルデータを化合物ごとに格納し、未知化合物のMSm 分析の結果得られたMSm スペクトル(m≧1)と比較して検索するためのデータベースを備えた質量分析装置用データ処理装置において、
データベース検索の際に世代の異なるMSn データの検索を可能とする機能を有することを特徴とする質量分析装置用データ処理装置。
IPC (2)：
FI (3)：
G01N27/62 D
, G01N27/62 V
, H01J49/26
Cited by applicant (5)
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質量分析装置のデータ処理装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平9-242033
Applicant：株式会社島津製作所
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質量分析装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平11-229531
Applicant：日本電子株式会社
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MS/MS質量分析装置用データ処理装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平6-282814
Applicant：株式会社島津製作所
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質量分析方法および装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2000-398185
Applicant：株式会社日立製作所
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米国特許6624408
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Cited by examiner (6)
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