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J-GLOBAL ID:200903094392564420
遠隔プラズマCVDによりジシラン前駆体から高品質シリコン酸化膜を形成する方法
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (3):
長谷川 芳樹
, 山田 行一
, 池田 成人
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2008272392
Publication number (International publication number):2009111382
Application date: Oct. 22, 2008
Publication date: May. 21, 2009
Summary:
【課題】基板上の微細なトレンチおよびギャップにシリコンおよび窒素含有膜を堆積する方法を提供する。【解決手段】基板を収容する堆積チャンバ内にシリコンを含有する前駆体を導入することを含み、シリコンを含有する前駆体は少なくとも2つのシリコン原子を含む。さらに、堆積チャンバの外側に位置する遠隔プラズマシステムを用いて少なくとも1つのラジカル窒素前駆体を生成する。さらに、堆積チャンバにラジカル窒素前駆体を導入することを含み、ラジカル窒素およびシリコン含有前駆体は反応して基板上にシリコンおよび窒素含有膜を堆積する。さらに、蒸気環境内でシリコンおよび窒素含有膜をアニーリングしてシリコン酸化膜を形成することを含み、蒸気環境は水および酸蒸気を含む。【選択図】図1
Claim (excerpt):
基板上にシリコンおよび窒素含有膜を堆積する方法であって、
前記基板を収容する堆積チャンバに、少なくとも2つのシリコン原子を含むシリコン含有前駆体を導入するステップと、
前記堆積チャンバの外側に位置する遠隔プラズマシステムを用いて少なくとも1つのラジカル窒素前駆体を生成するステップと、
前記堆積チャンバに前記ラジカル窒素前駆体を導入するステップと、
を備え、
前記ラジカル窒素およびシリコン含有前駆体が反応し、前記基板上に前記シリコンおよび窒素含有膜を堆積する方法。
IPC (1):
FI (1):
F-Term (8):
5F058BA02
, 5F058BC08
, 5F058BC10
, 5F058BF07
, 5F058BF23
, 5F058BF30
, 5F058BH03
, 5F058BJ06
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (8)
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プラズマCVD装置およびプラズマCVD方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-117304
Applicant:ソニー株式会社
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絶縁膜の製造方法及びこの絶縁膜を使用する半導体装置の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-123018
Applicant:右高正俊, 東亞合成株式会社
-
半導体膜の改良された堆積方法
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2002-578556
Applicant:エーエスエムアメリカインコーポレイテッド
-
光CVD法利用絶縁膜の製造方法と平坦化絶縁膜の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-278189
Applicant:ソニー株式会社
-
半導体装置における絶縁膜の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-297260
Applicant:新日本製鐵株式会社
-
無機シラザンベース絶縁膜を形成する方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2008-137995
Applicant:日本エー・エス・エム株式会社
-
絶縁膜の成膜方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-153855
Applicant:ソニー株式会社
-
半導体装置及びその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-166949
Applicant:株式会社東芝
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