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J-GLOBAL ID:201003064860673767

管状構造体の応力解析システム及び応力解析方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (4): 稲葉 良幸 ,  大貫 敏史 ,  江口 昭彦 ,  内藤 和彦
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2008320072
Publication number (International publication number):2010145132
Application date: Dec. 16, 2008
Publication date: Jul. 01, 2010
Summary:
【課題】きわめて容易かつ迅速に管状構造体の板厚測定及び応力解析を実現させることができるシステム及び方法を提供する。【解決手段】管状構造体の板厚を測定するとともに、測定して得た板厚データを所定の測定データ形式で保存する板厚測定装置2と、板厚測定装置2で保存した板厚データを測定データ形式から応力解析用データ形式に自動変換するとともに、自動変換して得た応力解析用データ形式の板厚データを用いて管状構造体の応力解析を行う応力解析装置3と、を備える応力解析システム1である。【選択図】図3
Claim (excerpt):
管状構造体の板厚を測定するとともに、測定して得た板厚データを所定の測定データ形式で保存する板厚測定装置と、 前記板厚測定装置で保存した板厚データを前記測定データ形式から応力解析用データ形式に自動変換するとともに、自動変換して得た前記応力解析用データ形式の板厚データを用いて前記管状構造体の応力解析を行う応力解析装置と、を備える、 管状構造体の応力解析システム。
IPC (1):
G01L 1/00
FI (1):
G01L1/00 M
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1) Cited by examiner (7)
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