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J-GLOBAL ID：201302209361970331   Reference number：13A1568492

Electron Microscopy for “Nano-in-Macro”

収差補正電子顕微鏡と表面・界面科学

Author (10)： TAKAYANAGI KUNIO (東京工業大学) ,  TAKAYANAGI KUNIO (CREST-JST) ,  OSHIMA YOSHIFUMI (CREST-JST) ,  OSHIMA YOSHIFUMI (大阪大学超高圧電子顕微鏡センター) ,  RI SHOEN (東京工業大学) ,  RI SHOEN (CREST-JST) ,  TANAKA TAKAYUKI (東京工業大学) ,  TANAKA TAKAYUKI (CREST-JST) ,  TANISHIRO YASUMASA (東京工業大学) ,  TANISHIRO YASUMASA (CREST-JST)
Material： 表面科学  (JSSSJ)
Volume： 34  Issue： 5  Page： 226-233 (J-STAGE)  Publication year： 2013 
JST Material Number： F0940B  ISSN： 0388-5321  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： scanning transmisson electron microscope ,  *aberration correction ,  manganate ,  lithium compound ,  metal ion ,  titanium oxide ,  nanostructure ,  *surface structure ,  high-resolution ,  wave optics ,  in situ observation ,  catalytic activity ,  *electron microscope ,  *interface(surface) ,  *electron microscopy
Semi thesaurus term： titania ,  lithium manganate ,  Li ion

JST classification (1)： Microscopy determination of structures  (BK01040E)

Reference (48)：

• SCHERZER, O. Z. Physik. 1936, 101, 593
• ROSE, H. Optik. 1990, 85, 19
• SAWADA, H. J. Electron Microsc. 2009, 58, 357
• SAWADA, H. Jpn. J. Apl. Phys. 2007, 46, L568
• TAKAYANAGI, K. Surface Sci. 1985, 164, 367

Terms in the title (3)： 収差補正 ,  電子顕微鏡 ,  界面科学