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J-GLOBAL ID:201403066252572224
常温接合装置、常温接合方法、平坦化装置および平坦化方法
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
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Agent (2):
工藤 実
, 中尾 圭策
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2013030405
Publication number (International publication number):2014160741
Application date: Feb. 19, 2013
Publication date: Sep. 04, 2014
Summary:
【課題】複数の基板を接合するとき、接合の信頼性を向上すること。【解決手段】常温接合装置は、第1基板52の第1表面および第2基板42の第2表面に照射される活性化ビームBa、Bbを出射する活性化装置16と、第1表面および第2表面40に活性化ビームBa、Bbが照射された後に、第1表面と第2表面とを接触させることにより、第1基板52と第2基板42とを接合する圧接機構15とを具備している。活性化ビームBa、Bbは、ネオン原子を含むビームである。【選択図】図16
Claim (excerpt):
第1基板の第1表面および第2基板の第2表面に照射される活性化ビームを出射する活性化装置と、
前記第1表面および前記第2表面に前記活性化ビームが照射された後に、前記第1表面と前記第2表面とを接触させることにより、前記第1基板と前記第2基板とを接合する圧接機構と
を具備し、
前記活性化ビームは、ネオン原子を含むビームである
常温接合装置。
IPC (4):
H01L 21/02
, B23K 20/00
, B23K 20/26
, B23K 20/24
FI (5):
H01L21/02 B
, B23K20/00 310P
, B23K20/26
, B23K20/24
, B23K20/00 310L
F-Term (6):
4E167AA18
, 4E167BA02
, 4E167CA05
, 4E167CA10
, 4E167CB01
, 4E167DA05
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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シリコンウェハーの常温接合法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-268028
Applicant:工業技術院長
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炭化珪素種結晶の固定方法及び炭化珪素単結晶の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2010-049627
Applicant:昭和電工株式会社
-
表面処理方法及び表面処理装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2010-120920
Applicant:兵庫県, 東京エレクトロン株式会社
-
実装方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2007-114686
Applicant:松下電工株式会社
-
接合装置及び接合方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-079079
Applicant:株式会社荏原製作所, 畑村洋太郎
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