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J-GLOBAL ID:201603020952088035
アレイ探傷装置および方法
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
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Agent (7):
曾我 道治
, 鈴木 憲七
, 梶並 順
, 大宅 一宏
, 上田 俊一
, 吉田 潤一郎
, 飯野 智史
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2012150615
Publication number (International publication number):2014013187
Patent number:5904331
Application date: Jul. 04, 2012
Publication date: Jan. 23, 2014
Claim (excerpt):
【請求項1】 電気信号によって駆動され超音波を試験体中に伝搬させ、かつ前記試験体中を伝搬した超音波を電気信号に変換する複数の素子を並べて設けたアレイ探触子と、
前記アレイ探触子の各素子を駆動しかつ前記各素子からの電気信号を受信してアレイ探傷を行う送受信器と、
を備え、
前記送受信器は、前記アレイ探触子の各素子をそれぞれ所望のタイミングで駆動し各素子で得られる電気信号を受けて、送信時に所望の角度で超音波が伝搬された場合に生じる前記電気信号を求めさらに合成波を生成し、角度に対する前記合成波の振幅の角度特性を求めて振幅が相対的に大きく変化する角度から前記試験体内に存在する凹部の凹み量を求めることを特徴とするアレイ探傷装置。
IPC (2):
G01N 29/12 ( 200 6.01)
, G01N 29/24 ( 200 6.01)
FI (2):
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (11)
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特開昭62-209356
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非破壊検査方法および非破壊検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-091845
Applicant:コスモ石油株式会社, 非破壊検査株式会社
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超音波検査システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2009-191989
Applicant:株式会社豊田中央研究所
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超音波伝搬方法並びにこれを用いた超音波伝搬装置及び超音波試験装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-195598
Applicant:独立行政法人宇宙航空研究開発機構, 非破壊検査株式会社
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超音波探傷装置および超音波探傷方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-148030
Applicant:三菱電機株式会社, 湘菱電子株式会社, 非破壊検査株式会社
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アレイ探触子を用いた超音波探傷方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2010-202613
Applicant:日立GEニュークリア・エナジー株式会社
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表層傷の推定法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-014213
Applicant:日本鋼管株式会社
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特公昭31-000946
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表面検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-351440
Applicant:株式会社東芝, 東芝エンジニアリング株式会社
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タンク底板検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2010-243540
Applicant:株式会社日立エンジニアリング・アンド・サービス
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超音波非破壊検査方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2010-215915
Applicant:インペリアル・イノベ-ションズ・リミテッド
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