サンプル検出用デバイス、サンプル検出装置及びイオン電流の検出方法

Inventor： , , , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：松本征二
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2015233120
Publication number (International publication number)：2017099300
Application date： Nov. 30, 2015
Publication date： Jun. 08, 2017
Summary：

【課題】サンプルが検出孔を通過する時のイオン電流を検出する時に、サンプルが通過する位置を制御できるサンプル検出用デバイス、サンプル検出装置及びイオン電流の検出方法を提供する。【解決手段】基板、該基板に形成されたサンプルが通過する検出孔、該検出孔をサンプルが通過する時にサンプルの位置を制御するための少なくとも3以上のサンプル制御用電極、を含むサンプル検出用デバイス。【選択図】図3

Claim (excerpt)：

基板、該基板に形成されたサンプルが通過する検出孔、該検出孔をサンプルが通過する時にサンプルの位置を制御するための少なくとも3以上のサンプル制御用電極、を含むサンプル検出用デバイス。

IPC (3)：

C12M 1/34 , G01N 15/12 , G01N 27/00

FI (3)：

C12M1/34 B , G01N15/12 B , G01N27/00 Z

F-Term (14)：

2G060AA06 , 2G060AA15 , 2G060AD06 , 2G060AE17 , 2G060AF01 , 2G060FA14 , 2G060FB02 , 4B029AA07 , 4B029BB02 , 4B029BB06 , 4B029BB20 , 4B029CC01 , 4B029FA09 , 4B029FA15

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (10)

分子の解析と識別のための方法及び装置
Gazette classification：公表公報 Application number：特願2012-510988 Applicant：ソウダニエルワイ-チョン
生体分子を特徴付けるためのナノ細孔センサー
Gazette classification：公表公報 Application number：特願2014-522982 Applicant：ザボードオブトラスティーズオブザユニヴァーシティーオブイリノイ
特表平5-506605

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Article cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集, 2014, Vol.75th, #18a-PA1-6
分子科学討論会講演要旨, 2013, Vol.7th, #4P041
生物物理, 2012, Vol.52, No.3, pp.152-153

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