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J-GLOBAL ID：202002227620067882   Reference number：20A0893667

In situ FESEM tensile/creep experiments in submicrometer-thick single-crystalline gold films

サブミクロン単結晶金薄膜のその場FESEM観察引張・クリープ試験

Author (3)： KONDO TOSHIYUKI (大阪大) ,  TAKAYAMA ATSUSHI (大阪大) ,  MINOSHIMA KOJI (大阪大)
Material： 日本機械学会M&M材料力学カンファレンス(CD-ROM)  (日本機械学会M&M材料力学カンファレンス講演論文集(CD-ROM))
Volume： 2019  Page： ROMBUNNO.OS1007  Publication year： Nov. 01, 2019 
JST Material Number： L0191B  ISSN： 2424-2845  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *scanning electron microscope ,  fine particle ,  single crystal ,  *metallic thin film ,  tension (material phenomenon) ,  *creep test ,  focused ion beam ,  magnetron sputtering ,  vacuum vessel ,  experiment ,  dislocation(crystal) ,  tensile characteristics ,  field emission scanning electron microscope ,  lattice defect
Semi thesaurus term： FE-SEM ,  submicron particle ,  field emission scanning electron microscope

JST classification (1)： Metallic materials  (HC02020X)

Terms in the title (7)： サブ ,  単結晶 ,  金薄膜 ,  FESEM ,  観察 ,  引張 ,  クリープ試験