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J-GLOBAL ID：202003008836262497

サンプル検出用デバイス、サンプル検出装置及びイオン電流の検出方法

Inventor： 筒井 真楠 ,  谷口 正輝 ,  川合 知二 ,  土井 謙太郎 ,  川野 聡恭 ,  田中 頌二
Applicant, Patent owner： 国立大学法人大阪大学
Agent (1)： 松本 征二
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2015233120
Publication number (International publication number)：2017099300
Patent number：6714924
Application date： Nov. 30, 2015
Publication date： Jun. 08, 2017
Claim (excerpt)：

【請求項1】 基板、該基板に形成されたサンプルが通過する検出孔、該検出孔をサンプルが通過する時にサンプルの位置を制御するための少なくとも3以上のサンプル制御用電極、を含み、 前記検出孔が開口している面から前記基板を見た時に、前記3以上のサンプル制御用電極の先端部分が、前記検出孔に対して略等間隔となるように基板に形成されている、 サンプル検出用デバイス。

IPC (3)：

C12M 1/34 ( 200 6.01) ,  G01N 15/12 ( 200 6.01) ,  G01N 27/00 ( 200 6.01)

FI (3)：

C12M 1/34 B ,  G01N 15/12 B ,  G01N 27/00 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (10)

• 分子の解析と識別のための方法及び装置
  Gazette classification：公表公報   Application number：特願2012-510988   Applicant：ソウダニエルワイ-チョン
• 生体分子を特徴付けるためのナノ細孔センサー
  Gazette classification：公表公報   Application number：特願2014-522982   Applicant：ザボードオブトラスティーズオブザユニヴァーシティーオブイリノイ
• 特表平5-506605
  
• 特表平7-506898
  
• 電場を使用する分析物の操作
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2007-034138   Applicant：アプレラコーポレイション
• 特開昭51-003279
  
• 半導体マイクロ分析チップ及びその製造方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2013-167649   Applicant：株式会社東芝
• 細胞計測および分離チップ
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2004-379327   Applicant：株式会社オンチップ・バイオテクノロジーズ
• 試料作製装置および試料作製方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2015-072796   Applicant：国立大学法人大阪大学, 国立研究開発法人農業・食品産業技術総合研究機構, 特定非営利活動法人バイオチップコンソーシアム
• サンプル検出デバイス用のサンプル捕集装置、及び該サンプル捕集装置を含むサンプル検出デバイス
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2015-077776   Applicant：国立大学法人大阪大学

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 応用物理学会秋季学術講演会 講演予稿集, 2014, Vol.75th, #18a-PA1-6
• 分子科学討論会 講演要旨, 2013, Vol.7th, #4P041
• 生物物理, 2012, Vol.52, No.3, pp.152-153