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J-GLOBAL ID：200902255415676670   整理番号：08A1136834

イオン伝導体Al₂(WO₄)₃のVCIP法による高次反射強度測定とそのXAO解析

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著者 (4件)： 清田寛仁 (名古屋工大 大学院) ,  田中清明 (名古屋工大 大学院) ,  今中信人 (大阪大 大学院) ,  田村真治 (大阪大 大学院)
資料名： 日本結晶学会年会講演要旨集  (日本結晶学会年会および会員総会講演要旨集)
巻： 2007  ページ： 68  発行年： 2007年 
JST資料番号： L2497A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *アルミニウム化合物 ,  タングステン酸塩 ,  *イオン伝導 ,  斜方晶系 ,  非調和振動 ,  *X線回折 ,  *イオン結晶 ,  *格子振動 ,  振動ポテンシャル ,  イメージングプレート ,  画像処理

分類 (2件)： 固体中の拡散一般  (BL06021L) ,  格子振動の熱的・統計的性質  (BL03050G)

タイトルに関連する用語 (3件)： イオン伝導体 ,  反射強度 ,  解析