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J-GLOBAL ID：200902286734777547   整理番号：09A0278000

隣接信号線を考慮したオープン故障のテストパターンについて

On Tests to Detect Open faults with Considering Adjacent Lines

著者 (8件)： 渡部哲也 (愛媛大 大学院) ,  高橋寛 (愛媛大 大学院) ,  樋上喜信 (愛媛大 大学院) ,  堤利幸 (明治大) ,  山崎浩二 (明治大) ,  四柳浩之 (徳島大 大学院) ,  橋爪正樹 (徳島大 大学院) ,  高松雄三 (愛媛大 大学院)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 108  号： 431(DC2008 68-78)  ページ： 37-42  発行年： 2009年02月09日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 配線の微細化,長距離化に伴って,配線およびビアの断線(オープン)の欠陥によって生じる故障が顕在化している。オープン故障モデルにおいては,その故障励起が隣接信号線の影響をうけるため,テストパターンに依存する。従って,テストパターンを生成するためには,LSIのレイアウト情報が必要となる。しかしながら,微細化が進むLSIの回路パラメータを正確に抽出することは容易ではない。そこで,本稿では,筆者らが提案したオープン故障のモデルに基づいて,隣接信号線のみの情報でオープン故障のテストパターンを生成する方法を提案する。最後に,提案したテスト生成法をベンチマーク回路に適用した評価実験を行う。(著者抄録)

シソーラス用語： 超LSI ,  *切断 ,  *電気故障 ,  *テストパターン ,  CAD【計算機】 ,  モデル ,  故障モデル ,  *断線
準シソーラス用語： *オープン故障 ,  テスト生成

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

引用文献 (15件)：

• CHEN, W. Analytic models for crosstalk delay and pulse analysis under non-ideal inputs. Proc. Int. Test Conf., 1997. 1997, 809-818
• SATO, Y. A persistent diagnostic technique for unstable defects. Proc. Int. Test Conf., 2002. 2002, 242-249
• IRAJPOUR, S. Analyzing crosstalk in the presence of weak bridge defects. Proc. VLSI Test Symp., 2003. 2003, 385-392
• DESINENI, R. Diagnosis of arbitrary defects using neighborhood function extraction. Proc. VLSI Test Symp., 2005. 2005, 366-373
• BLANTON, R. D. Defect modeling using fault tuples. IEEE Trans. on Computer-Aided Design. 2006, 25, 11, 2450-2464

タイトルに関連する用語 (3件)： 信号線 ,  オープン故障 ,  テストパターン