井田隆

イダタカシ | Ida Takashi

所属機関・部署：
職名：教授
ホームページURL (1件)： http://www.crl.nitech.ac.jp/~ida/index-j.html

研究分野 (4件)：無機材料、物性 , 無機・錯体化学 , 基礎物理化学 , 応用物性

研究キーワード (1件)： -

競争的資金等の研究課題 (8件)：

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論文 (90件)：

Takashi Ida. Continuous series of symmetric peak profile functions determined by standard deviation and kurtosis. Powder Diffraction. 2021. 36. 4
Takashi Ida. Equatorial aberration for powder diffraction data collected by continuous scan of a silicon strip X-ray detector. Powder Diffraction. 2021. 64. 3. 169-175
Takashi Ida. Application of deconvolutional treatment to powder diffraction data collected with a Bragg-Brentano diffractometer with a contaminated Cu target with a Ni filter. Powder Diffraction. 2020. 35. 03. 166-177
T. Ida. Equatorial aberration of powder diffraction data collected with an Si strip X-ray detector by a continuous-scan integration method. Journal of Applied Crystallography. 2020. 53. 679-685
Takashi Ida, Shoki Ono, Daiki Hattan, Takehiro Yoshida, Yoshinobu Takatsu, Katsuhiro Nomura. Improvement of deconvolution-convolution treatment of axial-divergence aberration in Bragg-Brentano geometry. Powder Diffraction. 2018. 33. 2. 121-133

MISC (13件)：

書籍 (5件)：

講演・口頭発表等 (86件)：

集中法反射型粉末回折測定における有限厚さ試料の透過性の効果
(日本結晶学会年会 2021)
シリコンストリップ型X線検出器の連続走査積算により収集された粉末回折データにおける赤道収差
(日本結晶学会年会 2020)
Equatorial Aberration for Powder Diffraction Data Collected by Continuous Scan of a Silicon Strip X-ray Detector
(Denver X-ray Conference 2020)
Treatment of powder X-ray diffraction data collected with a Bragg-Brentano diffractometer with a Cu K X-ray source and a Ni-foil filter
(AsCA 2019 2019)
Powder Diffraction Method with Laboratory & Synchrotron Sources of X-ray
(Pacific Rim Conference of Ceramic Societies 2019)

委員歴 (8件)：

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受賞 (3件)：

2017/03/14 - International Centre for Diffraction Data Best Poster Award in ICDD Spring Meetings Decontamination of powder diffraction data measured with copper Kalpha x-ray and nickel filter
2010/10 - The Americal Ceramic Society Richard and Patricia Spriggs Phase Equillibria Award
2010/03 - International Centre for Diffraction Data ICDD Fellow

所属学会 (6件)：

分析化学会X線分析研究懇談会 , 国際結晶学連合(IUCr) , 日本セラミックス協会 , 日本結晶学会 , 日本物理学会 , 日本化学会

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井田 隆