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J-GLOBAL ID:200902238574687851   整理番号:08A1183373

パルスモードホットメッシュCVD法による窒化物半導体のエピタキシャル成長

Epitaxial growth of III-V nitride semiconductor films by pulse-mode hot-mesh CVD
著者 (10件):
資料名:
巻: 108  号: 269(CPM2008 75-88)  ページ: 7-12  発行年: 2008年10月23日 
JST資料番号: S0532B  ISSN: 0913-5685  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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紫外・青紫LED,LD,また高温環境下で動作する電子デバイス用材料であるGaNの省資源成長法として期待されるホットメッシュCVD法において原料ガスの間欠供給及びメッシュのパルス加熱がGaN結晶膜の特性にどのような効果をもたらすか調べた。これまでルテニウム(Ru)を坦持したメッシュ状タングステン(W)を用いたホットメッシュCVD法により,メッシュ温度1100°Cにおいて良好な結晶性と深い順位からの発光が無く強いバンド端発光を示すGaN膜の成長に成功している。今回,気相反応を抑制することでGaN膜の特性を更に改善出来ないか,アンモニア及びアルキル金属原料ガスをパルス供給させ成長を行った。また,Wメッシュ上でアンモニアの吸着・分解・脱離をパルス的に行い基板に供給することでGaNの特性にどのような影響が生じるか調べた。結果,TMGをパルス供給させアンモニアを連続供給させた場合においてGaNの結晶性,発光特性ともに優れた膜が得られた。また,メッシュのパルス加熱によるGaN成長においては結晶性の改善を見出せなかった。(著者抄録)
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分類 (3件):
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固体デバイス製造技術一般  ,  固体デバイス材料  ,  薄膜成長技術・装置 
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