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J-GLOBAL ID：200902293502991506   整理番号：09A0277999

組合せ回路に対する欠陥考慮テストパターンの一生成法

A method for generating defect oriented test patterns for combinatorial circuit

著者 (5件)： 高橋寛 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  樋上喜信 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  和泉太佑 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  相京隆 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  高松雄三 (愛媛大 大学院理工学研究科)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 108  号： 431(DC2008 68-78)  ページ： 31-36  発行年： 2009年02月09日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 微細化加工技術の進展に伴って,配線の欠陥によって生じる不良モードの多様化が問題となっている。そのため,品質保証のために,従来の縮退故障に加えてブリッジ故障およびオープン故障を検出できるテストパターンが必要となっている。本稿では,多様な故障モデルの故障励起条件を利用した欠陥考慮テストパターンの生成法を提案する。提案手法では,テストパターンの欠陥検出確率に基づいて,与えられたテストパターン集合から欠陥考慮テストパターンを選択する。評価実験結果から,提案手法により得られた欠陥考慮テストパターン集合は,より少ないテストパターン数でより多くの故障モデルを検出できることを示す。(著者抄録)

シソーラス用語： *組合せ回路 ,  超LSI ,  *回路試験 ,  *テストパターン ,  CAD【計算機】 ,  欠陥 ,  多様性 ,  切断 ,  電気故障 ,  短絡【電気】 ,  励起 ,  モデル ,  故障モデル ,  断線
準シソーラス用語： テスト生成 ,  オープン故障

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

引用文献 (10件)：

• 市原英行. テスト数制限下でのテスト入力集合の選択手法について. 電子情報通信学会論文誌D-I. 1999, J82-D-I, 7, 861-868
• MA, S. C. An experimental chip to evaluate test techniques experimental results. Proc. Int. Test Conf., 1995. 1995, 663-672
• POMERANZ, I. Stuck-at tuple detection : A fault model based on stuck-at faults for improved defect coverage. Proc. VLSI Test Symposium, 1998. 1998, 289-294
• LEE, S. A new ATPG algorithm to limit test set size and achieve multiple detections of all Faults. Proc. Design, Automation and Test in Europe, 2002. 2002, 94-99
• BLANTON, R. D. Analyzing the effectiveness of multiple-detect test sets. Proc. Int. Test Conf., 2003. 2003, 876-885

タイトルに関連する用語 (3件)： 組合せ回路 ,  欠陥 ,  テストパターン