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J-GLOBAL ID：200902296147274830   整理番号：07A0363149

Saccharomyces cerevisiae欠損株のゲノムワイドスクリーニングにより明かにされた凍結-融解ストレス耐性に必要な遺伝子の同定と分類

Identification and classification of genes required for tolerance to freeze-thaw stress revealed by genome-wide screening of Saccharomyces cerevisiae deletion strains

著者 (5件)： ANDO Akira (National Food Res. Inst., Ibaraki, JPN) ,  NAKAMURA Toshihide (National Food Res. Inst., Ibaraki, JPN) ,  MURATA Yoshinori (National Food Res. Inst., Ibaraki, JPN) ,  TAKAGI Hiroshi (Nara Inst. Sci. and Technol. (NAIST), Nara, JPN) ,  SHIMA Jun (National Food Res. Inst., Ibaraki, JPN)
資料名： FEMS Yeast Research  (FEMS Yeast Research)
巻： 7  号： 2  ページ： 244-253  発行年： 2007年03月 
JST資料番号： W1670A  ISSN： 1567-1356  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (11件)： Saccharomyces ,  欠損 ,  株 ,  ゲノム ,  スクリーニング ,  凍結 ,  融解 ,  ストレス耐性 ,  遺伝子 ,  同定 ,  分類