特許
J-GLOBAL ID：200903000132262611
レーザ光による成分分析方法
発明者：
,
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出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
光石 俊郎
, 光石 忠敬
, 田中 康幸
, 松元 洋
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-299878
公開番号（公開出願番号）：特開2004-132919
出願日： 2002年10月15日
公開日（公表日）： 2004年04月30日
要約：
【課題】各種成分組成を迅速に計測するレーザ光による成分分析方法を提供することを課題とする。【解決手段】レーザ光による成分分析方法は、被測定物にレーザ光を照射してその組成成分をプラズマ化し、該プラズマから発生するプラズマ光を分光器に入射し、分光器にて分光したスペクトル光から成分を分析するレーザ光による成分分析方法において、組成成分から特定の一の基準元素を選定し、各組成のスペクトルから基準元素と各成分との相対比を計測する。【選択図】 なし
請求項（抜粋）：
被測定物にレーザ光を照射してその組成成分をプラズマ化し、該プラズマから発生するプラズマ光を分光器に入射し、分光器にて分光したスペクトル光から成分を分析するレーザ光による成分分析方法において、
組成成分から特定の一の基準元素を選定し、
基準元素と各成分との相対比を計測することを特徴とするレーザ光による成分分析方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (20件)：
2G043AA01
, 2G043BA01
, 2G043BA07
, 2G043CA01
, 2G043CA03
, 2G043CA05
, 2G043EA10
, 2G043FA03
, 2G043GA25
, 2G043GB28
, 2G043HA01
, 2G043HA02
, 2G043JA01
, 2G043KA02
, 2G043KA03
, 2G043KA08
, 2G043KA09
, 2G043LA03
, 2G043NA01
, 2G043NA04
