特許
J-GLOBAL ID:200903002653627791

食品用X線異物検査装置およびその方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 村上 友一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-071504
公開番号(公開出願番号):特開2009-229100
出願日: 2008年03月19日
公開日(公表日): 2009年10月08日
要約:
【課題】被検査物中の異物を高精度または高速度で検出できる食品用X線異物検査装置およびその方法を提供する。【解決手段】本発明の食品用X線異物検査装置10は、被検査物12にX線を照射するX線発生部20と、前記被検査物12を透過した前記X線を検出するX線検出部30とを備えたX線異物検査装置において、前記X線検出部30のX線透過画像データを、異なる分割数で複数の画像に分割し、分割画像毎に閾値を設定して2値化して、得られた各ピクセルの2値化結果を多数決で異物13の有無の判定を行う画像処理部40を備えている。【選択図】図1
請求項(抜粋):
被検査物にX線を照射するX線発生部と、前記被検査物を透過した前記X線を検出するX線検出部とを備えた食品用X線異物検査装置において、 前記X線検出部が出力したX線透過画像データから分割数の異なる複数の分割画像を生成し、前記分割画像のブロック毎に閾値を算出し2値化して、前記分割画像のピクセル毎の2値化結果に基づいて異物の有無を多数決で判定する画像処理部を備えたことを特徴とする食品用X線異物検査装置。
IPC (1件):
G01N 23/04
FI (1件):
G01N23/04
Fターム (8件):
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001FA02 ,  2G001GA12 ,  2G001KA01 ,  2G001LA01 ,  2G001PA11
引用特許:
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (5件)
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