特許
J-GLOBAL ID：200903006406016645

OTDR測定装置

発明者：
里村 裕明

里村 裕明 について

, 
仁木 尚治

仁木 尚治 について


出願人/特許権者：
株式会社アドバンテスト

株式会社アドバンテスト について


代理人 (1件)： 細田 益稔
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-218900
公開番号（公開出願番号）：特開2001-041849
出願日： 1999年08月02日
公開日（公表日）： 2001年02月16日
要約：
【要約】【課題】 少ない回数の計測で、分解能もS/N比も良い計測を行えるOTDR測定装置を提供する。【解決手段】 幅の異なるパルスを組み合わせた光パルスを発生するQスイッチリングレーザ2から発生した光パルスは第1結合器4aを介して、光ファイバ6に入射され、破断点7で反射される。反射光は第2結合器4bを介して、反射波形取得部30にて、波形データに変換され、波形メモリ18に記録される。第1演算部16は、波形メモリ18に記録された波形データから波形を読み出し、幅の異なる個々のパルスに対応した部分を特定するため、S/N比が良い(パルス幅が大)計測と、分解能が良い計測(パルス幅が小)が可能である。よって、少ない回数の計測で、分解能もS/N比も良い計測を行える。
請求項（抜粋）：
パルス幅の異なる部分パルスを組み合わせた光パルスを発する光パルス発生器と、前記光パルスを光ファイバに入射する光ファイバ入射手段と、前記光ファイバによって反射された前記光パルスを所定の方向へ出力する反射光取得手段と、前記反射光取得手段から前記反射された前記光パルスを受け取り、反射波形を取得する反射波形取得手段と、前記反射波形取得手段で取得された前記反射波形を記録する波形メモリと、前記波形メモリに記録された前記反射波形の内の前記部分パルスに対応する部分を特定する第1演算手段と、を備えたOTDR測定装置。
Fターム (2件)：
2G086CC03 ,  2G086CC04
引用特許：
審査官引用 (12件)
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