特許
J-GLOBAL ID：200903011693020864

光測定装置

発明者：
石見 憲一

石見 憲一 について


出願人/特許権者：
株式会社クボタ

株式会社クボタ について


代理人 (1件)： 河野 登夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-313106
公開番号（公開出願番号）：特開2001-133404
出願日： 1999年11月02日
公開日（公表日）： 2001年05月18日
要約：
【要約】【課題】 可及的に低いコストで、複数ラインのコンベアで移送される被測定物の状態をオンラインで高精度に測定することを可能とする光測定装置を提供する。【解決手段】 コンピュータ11は、メモリ12に設けた各格納領域を検索しTimer[Pi ]が零の領域のFlg exist[Pi ]=ONであるか否かを判断し、OFFである場合、下流の格納領域Pi+1 を検索して、Flg exist[Pi+1 ]=ONであるか否かを判断する。コンピュータ11は、それがOFFである場合、条1のコンベア80に配設した投光ユニット1及び条2のコンベア80に配設した投光ユニット1の光路には共に被測定物Hが存在しないので、入射光切り換えユニット20に、投光ユニット1,1からの光路を順番に切り換えさせると共に、フィルタ切り換えユニット40に、減光フィルタを光路内に進入させ、検出器60から与えられて値をリファレンス値として各別に記憶する。
請求項（抜粋）：
複数の被測定物を所定の間隔で搬送する複数ラインの搬送機(80,80)と、各搬送機(80,80)にそれぞれ設けてあり、被測定物へ光を出射する投光器(1,1)及び該投光器(1,1)が出射した光が入射する受光器(2,2)と、各搬送機(80,80)の前記投光器(1,1)及び受光器(2,2)から搬送方向の所定距離上流側に配置してあり、被測定物の存否を検出する被測定物検出器(7,7)と、各受光器(2,2)に入射された光を導く複数の導光体(6,6)と、入射された光を分光する分光器(50)と、各導光体(6,6)から分光器(50)へ入射する光を切り換える光切り換え器(20)と、該光切り換え器(20)と前記分光器(50)との間に進退自在に配設してあり、前記分光器(50)へ入射する光の強度を低減する減光手段及び前記分光器(50)へ入射する光を遮断する遮光手段を進退させる入射光変更器(40)と、分光器(50)によって分光された光の強度に対応する信号を出力する光電変換器(60)と、各被測定物検出器(7,7)が出力した信号に基づいて前記光切り換え器(20)の動作及び入射光変更器(40)の動作を制御する手段と、被測定物の光測定に係る測定信号、減光手段を進入させた場合のリファレンス信号、及び遮光手段を進入させた場合の暗信号を前記光電変換器(60)から得る手段と、前記測定信号リファレンス信号、及び暗信号に基づいて、被測定物の状態に係る演算を行う手段とを備えることを特徴とする光測定装置。
IPC (2件)：
G01N 21/35 ,  G01N 33/02
FI (2件)：
G01N 21/35 Z ,  G01N 33/02
Fターム (15件)：
2G059AA01 ,  2G059BB08 ,  2G059BB11 ,  2G059DD12 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059FF08 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ25 ,  2G059KK01 ,  2G059MM10 ,  2G059MM15
引用特許：
審査官引用 (11件)
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