特許
J-GLOBAL ID：200903014833350338
X線分析装置及びX線分析方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
松下 義治
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-331546
公開番号（公開出願番号）：特開2008-203245
出願日： 2007年12月25日
公開日（公表日）： 2008年09月04日
要約：
【課題】 X線分析装置及びX線分析方法において、X線源を安定に挙動させ、定量分析を安定して行なうこと。【解決手段】 1次X線を試料1に照射するX線管球3と、1次X線の強度を調整可能な1次X線調整機構4と、試料1から放出される特性X線を検出し該特性X線及び散乱X線のエネルギー情報を含む信号を出力するX線検出器5と、上記信号を分析する分析器6と、試料1とX線検出器5との間に配設されX線検出器5に入射される特性X線及び散乱X線の合計強度を調整可能な入射X線調整機構7とを備えている。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
放射線を試料に照射する放射線源と、
前記放射線の強度を調整可能な放射線調整機構と、
前記試料から放出される特性X線及び散乱X線を検出し該特性X線及び散乱X線のエネルギー情報を含む信号を出力するX線検出器と、
前記信号を分析する分析器と、
前記試料と前記X線検出器との間に配設され前記X線検出器に入射される前記特性X線及び散乱X線の合計強度を調整する入射X線調整機構とを備えていることを特徴とするX線分析装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (30件)：
2G001AA01
, 2G001AA03
, 2G001BA04
, 2G001BA05
, 2G001BA14
, 2G001BA30
, 2G001CA01
, 2G001DA01
, 2G001DA02
, 2G001EA03
, 2G001EA06
, 2G001EA09
, 2G001FA09
, 2G001GA01
, 2G001GA05
, 2G001GA09
, 2G001GA11
, 2G001HA13
, 2G001JA02
, 2G001JA04
, 2G001JA11
, 2G001JA20
, 2G001KA01
, 2G001PA07
, 2G001PA11
, 2G001QA01
, 2G001SA01
, 2G001SA02
, 2G001SA10
, 2G001SA30
出願人引用 (1件)
-
蛍光X線分析装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願2002-317633
出願人：アワーズテック株式会社
審査官引用 (12件)
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