特許
J-GLOBAL ID：200903019915237558

格子画像の位相解析方法およびそれを用いた物体の変位測定方法ならびに物体の形状測定方法

発明者：
藤垣 元治

藤垣 元治 について

, 
李 志遠

李 志遠 について

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森本 吉春

森本 吉春 について


出願人/特許権者：
国立大学法人 和歌山大学

国立大学法人 和歌山大学 について


代理人 (2件)： 西教 圭一郎 ,  杉山 毅至
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-113236
公開番号（公開出願番号）：特開2009-264852
出願日： 2008年04月23日
公開日（公表日）： 2009年11月12日
要約：
【課題】 簡単な構成で材料および構造物などの物体の変位や形状やひずみを高精度で検出することができる位相解析方法を提供する。【解決手段】 撮影された画像の元の輝度値(a)の左もしくは右から(縦方向の場合、上もしくは下から)1番目のスタート点から整数倍画素N(Nは3以上)毎に間引き(b)、左から2番目のスタート点からN画素毎に間引き(c)、左から3番目のスタート点からN画素毎に間引き(d)、抜けた画像データを線形補間することによって、元の画像を同じ解像度の画像を得る。【選択図】 図5
請求項（抜粋）：
物体の表面に存在する格子模様の所定の領域を光学式カメラで撮影し、 前記撮影された画像に対して、等間隔の画素ごとのサンプリングを、起点の画素を変えながら3回以上の複数回実行し、このサンプリング処理によって得られた間引き画像を補間処理することによってモアレ縞画像を生成し、位相シフト法によって得られるモアレ縞の位相分布を求めることを特徴とする格子画像の位相解析方法。
IPC (3件)：
G01B 11/16 ,  G01B 11/25 ,  G01B 11/00
FI (3件)：
G01B11/16 H ,  G01B11/25 H ,  G01B11/00 H
Fターム (20件)：
2F065AA09 ,  2F065AA24 ,  2F065AA53 ,  2F065AA65 ,  2F065CC14 ,  2F065FF06 ,  2F065FF09 ,  2F065HH06 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL41 ,  2F065QQ00 ,  2F065QQ01 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ13 ,  2F065QQ17 ,  2F065QQ26 ,  2F065QQ32 ,  2F065QQ41 ,  2F065QQ42
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (10件)
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引用文献：
審査官引用 (1件)

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