細長部材の欠陥検出方法及び装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：堀田実
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-277958
公開番号（公開出願番号）：特開2005-043230
出願日： 2003年07月23日
公開日（公表日）： 2005年02月17日
要約：

【課題】一定の断面形状を有する細長部材(チューブ、パイプ、棒材)の外形欠陥(ふくれ、突起、波打ち、破れ、等)及び表面欠陥(亀裂、破れ、シース不良、傷、ピンホール、等)を単一の装置で検出することができ、かつ細長部材が不透明であっても内部欠陥(異物混入、等)を同一の装置で検出することができる細長部材の欠陥検出方法及び装置を提供する。【解決手段】断面形状が一定の細長部材1の外形欠陥、表面欠陥及び内部欠陥を検出する細長部材の欠陥検出方法。細長部材1を透過しかつ一部吸収される波長の電磁波2を照射し、細長部材を透過した前記電磁波3の透過強度の変化から細長部材の欠陥を検出する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

断面形状が一定の細長部材の外形欠陥、表面欠陥及び内部欠陥を検出する細長部材の欠陥検出方法であって、細長部材を透過しかつ一部吸収される波長の電磁波を照射し、細長部材を透過した前記電磁波の透過強度の変化から細長部材の欠陥を検出する、ことを特徴とする細長部材の欠陥検出方法。

IPC (4件)：

G01N21/952 , G01N21/35 , G01N22/00 , G01N22/02

FI (5件)：

G01N21/952 , G01N21/35 Z , G01N22/00 U , G01N22/02 A , G01N22/02 B

Fターム (17件)：

2G051AA44 , 2G051AA90 , 2G051AB03 , 2G051AB06 , 2G051AB07 , 2G051BA04 , 2G051BA06 , 2G051BA20 , 2G051CB02 , 2G059AA05 , 2G059BB15 , 2G059EE01 , 2G059HH01 , 2G059HH05 , 2G059HH06 , 2G059KK01 , 2G059MM05

引用特許：

出願人引用 (2件)

テラヘルツ波発生方法及び装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2000-261233 出願人：理化学研究所
テラヘルツ波発生装置とその高速同調方法
公報種別：公開公報出願番号：特願2001-187735 出願人：理化学研究所

審査官引用 (10件)

マイクロ波を用いた非破壊評価装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2000-089715 出願人：株式会社東北テクノアーチ
誘電体材料製品の内部品質評価装置および評価方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平10-101962 出願人：坂真澄, 住友ベークライト株式会社
特開平2-223849

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