特許
J-GLOBAL ID:200903042975541258

シリコン系薄膜の製造方法、その製造装置、光起電力素子及びその製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 鈴江 武彦 (外5名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-010315
公開番号(公開出願番号):特開2002-217114
出願日: 2001年01月18日
公開日(公表日): 2002年08月02日
要約:
【要約】【課題】 優先配向性に優れ、柱状晶が発達したシリコン系薄膜の製造方法、その製造装置、光起電力素子及びその製造方法を提供する。【解決手段】 反応容器内で基板を所定温度に加熱し、基板と放電用電極との間にシリコン含有ガスおよび水素ガスを供給するとともに、電源周波数が10MHz以上300MHz以下の高周波電力を該放電用電極と基板との間に印加して放電プラズマを生成させ、基板上に薄膜結晶系シリコン薄膜を積層形成する。
請求項(抜粋):
反応容器内で基板を所定温度に加熱し、基板と放電用電極との間にシリコン含有ガスおよび水素ガスを供給するとともに、電源周波数が10MHz以上300MHz以下の高周波電力を該放電用電極と基板との間に印加して放電プラズマを生成させ、基板上に薄膜結晶系シリコンを積層形成することを特徴とするシリコン系薄膜の製造方法。
IPC (4件):
H01L 21/205 ,  C23C 16/24 ,  C23C 16/46 ,  H01L 31/04
FI (4件):
H01L 21/205 ,  C23C 16/24 ,  C23C 16/46 ,  H01L 31/04 V
Fターム (34件):
4K030AA06 ,  4K030AA17 ,  4K030BA29 ,  4K030CA06 ,  4K030FA03 ,  4K030HA04 ,  4K030JA18 ,  4K030KA24 ,  4K030KA30 ,  4K030LA16 ,  5F045AA08 ,  5F045AB02 ,  5F045AC01 ,  5F045AD07 ,  5F045AE19 ,  5F045AE21 ,  5F045BB12 ,  5F045BB15 ,  5F045BB16 ,  5F045CA13 ,  5F045DA65 ,  5F045DP05 ,  5F045EH04 ,  5F045EK07 ,  5F045EK08 ,  5F051AA04 ,  5F051AA05 ,  5F051CA13 ,  5F051CA16 ,  5F051CA24 ,  5F051CA34 ,  5F051DA04 ,  5F051FA04 ,  5F051FA06
引用特許:
審査官引用 (7件)
全件表示

前のページに戻る