特許
J-GLOBAL ID:200903043098415153
剥離方法
発明者:
,
,
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-036668
公開番号(公開出願番号):特開2006-203219
出願日: 2006年02月14日
公開日(公表日): 2006年08月03日
要約:
【課題】被剥離層に損傷を与えず、小さな面積の被剥離層だけでなく、大きな面積の被剥離層も歩留まりが良好な剥離方法を提供する。【解決手段】基板上に第1の材料を含む第1の層を形成する工程と、第1の層上に第2の材料を含む第2の層を形成する工程と、第2の層上に被剥離層を形成する工程と、加熱処理またはレーザー光の照射を行って、第2の層の圧縮応力を用いることにより、基板と被剥離層とを分離する工程とを含む。第1の材料は、Ti、Al、Ta、W、Mo、Cu、Cr、Nd、Fe、Ni、Co、Zr、Zn、Ru、Rh、Pd、Os、Ir及びPtから選択された1つ又は複数である。第2の材料は、酸化シリコンまたは酸化窒化シリコンである。【選択図】図1
請求項(抜粋):
基板上に、第1の材料を含む第1の層を形成し、
前記第1の層上に、第2の材料を含む第2の層を形成し、
前記第2の層上に、被剥離層を形成し、
加熱処理またはレーザー光の照射を行って、前記第2の層の圧縮応力を用いることにより、前記基板と前記被剥離層とを分離することを特徴とする剥離方法。
IPC (6件):
H01L 27/12
, H01L 21/02
, H01L 21/20
, H01L 21/336
, H01L 29/786
, H01L 21/268
FI (4件):
H01L27/12 B
, H01L21/20
, H01L29/78 627D
, H01L21/268 F
Fターム (131件):
5F110AA30
, 5F110BB02
, 5F110BB04
, 5F110CC02
, 5F110CC03
, 5F110CC05
, 5F110CC07
, 5F110DD01
, 5F110DD12
, 5F110EE01
, 5F110EE02
, 5F110EE03
, 5F110EE04
, 5F110EE05
, 5F110EE06
, 5F110EE09
, 5F110EE14
, 5F110EE15
, 5F110EE23
, 5F110FF04
, 5F110FF30
, 5F110FF35
, 5F110GG02
, 5F110GG13
, 5F110GG25
, 5F110GG32
, 5F110GG34
, 5F110GG43
, 5F110GG45
, 5F110GG47
, 5F110GG51
, 5F110HJ01
, 5F110HJ04
, 5F110HJ07
, 5F110HJ12
, 5F110HJ13
, 5F110HJ23
, 5F110HL02
, 5F110HL03
, 5F110HL04
, 5F110HM15
, 5F110NN03
, 5F110NN23
, 5F110NN27
, 5F110NN35
, 5F110NN72
, 5F110NN73
, 5F110PP02
, 5F110PP03
, 5F110PP10
, 5F110PP34
, 5F110PP35
, 5F110QQ08
, 5F110QQ11
, 5F110QQ16
, 5F110QQ19
, 5F110QQ23
, 5F110QQ25
, 5F110QQ28
, 5F152BB01
, 5F152BB02
, 5F152BB03
, 5F152BB08
, 5F152BB09
, 5F152BB10
, 5F152CC02
, 5F152CC03
, 5F152CC05
, 5F152CC06
, 5F152CC07
, 5F152CC08
, 5F152CD09
, 5F152CD13
, 5F152CD15
, 5F152CD16
, 5F152CD17
, 5F152CE05
, 5F152CE06
, 5F152CE13
, 5F152CE14
, 5F152CE16
, 5F152CE24
, 5F152CE32
, 5F152CE36
, 5F152CE45
, 5F152CF13
, 5F152CF18
, 5F152DD02
, 5F152DD04
, 5F152DD05
, 5F152DD10
, 5F152EE14
, 5F152FF03
, 5F152FF06
, 5F152FF11
, 5F152FF21
, 5F152FF29
, 5F152FF30
, 5F152FF35
, 5F152FF36
, 5F152FF47
, 5F152FG04
, 5F152FG18
, 5F152FH01
, 5F152FH05
, 5F152LL03
, 5F152LL04
, 5F152LL10
, 5F152LP01
, 5F152LP06
, 5F152LP07
, 5F152LP09
, 5F152MM01
, 5F152MM02
, 5F152MM04
, 5F152MM11
, 5F152MM13
, 5F152NN01
, 5F152NN03
, 5F152NN12
, 5F152NN14
, 5F152NN16
, 5F152NN19
, 5F152NN20
, 5F152NP09
, 5F152NP12
, 5F152NP13
, 5F152NP14
, 5F152NP17
, 5F152NQ03
, 5F152NQ12
引用特許:
出願人引用 (9件)
-
剥離方法および半導体装置の作製方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2002-233745
出願人:株式会社半導体エネルギー研究所
-
剥離方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-300371
出願人:セイコーエプソン株式会社
-
剥離方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-300373
出願人:セイコーエプソン株式会社
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審査官引用 (9件)
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剥離方法および半導体装置の作製方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2002-233745
出願人:株式会社半導体エネルギー研究所
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剥離方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-300371
出願人:セイコーエプソン株式会社
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剥離方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-300373
出願人:セイコーエプソン株式会社
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