特許
J-GLOBAL ID:200903046946272391
試料分析装置およびコンピュータプログラム
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
宮園 博一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-053193
公開番号(公開出願番号):特開2007-232510
出願日: 2006年02月28日
公開日(公表日): 2007年09月13日
要約:
【課題】試料の測定結果が精度管理試料の測定結果に基づいて表示されたものであると認識することが可能な遺伝子増幅分析システムを提供する。【解決手段】この遺伝子増幅分析システム1は、サンプル試料および精度管理試料を測定することが可能な遺伝子増幅測定装置101と、精度管理試料の測定結果が所定の範囲内にあるか否かを判定する制御部130と、制御部130の判定結果に基づいて、遺伝子増幅測定装置101により測定された検体試料の測定結果の表示を制御する表示部140とを備えている。【選択図】図1
請求項(抜粋):
検体試料および対照試料を測定することが可能な測定部と、
前記対照試料の測定結果が所定の範囲内にあるか否かを判定する判定部と、
前記判定部の判定結果に基づいて、前記測定部により測定された検体試料の測定結果の表示を制御する表示部とを備えた、試料分析装置。
IPC (1件):
FI (2件):
G01N35/00 A
, G01N35/00 F
Fターム (6件):
2G058AA09
, 2G058GA01
, 2G058GD01
, 2G058GD05
, 2G058GE08
, 2G058GE09
引用特許:
出願人引用 (1件)
審査官引用 (12件)
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自動分析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-079157
出願人:株式会社日立製作所
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マイクロプレートリーダー
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-293100
出願人:和光純薬工業株式会社
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分析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2004-012014
出願人:シスメックス株式会社
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試料分析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2004-015572
出願人:シスメックス株式会社
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自動分析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-169499
出願人:株式会社日立製作所
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診断支援システム、および該システムにおける報告書作成方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-264664
出願人:オリンパス光学工業株式会社
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自動分析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-252398
出願人:株式会社東芝
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自動分析装置及び自動分析方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-175637
出願人:株式会社日立製作所
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特開昭64-091061
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自動分析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-135227
出願人:株式会社日立製作所
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自動分析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-270943
出願人:株式会社日立製作所
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検体検査自動化システム
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-023683
出願人:株式会社日立製作所
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