特許
J-GLOBAL ID：200903053564798365
液晶ディスプレイ基板の検査方法および装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
加藤 朝道
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-129770
公開番号（公開出願番号）：特開平8-304852
出願日： 1995年04月28日
公開日（公表日）： 1996年11月22日
要約：
【要約】【目的】液晶封入前の液晶ディスプレイ基板の検査において、検査時間を短縮し、画素電極の電圧状態を正確に検査する。【構成】複数の画素電極12に対し各々の電圧状態による光学的変化を同時に伴うセンサ素子2を液晶ディスプレイ基板1に近接又は当接させ、基板裏面から表面方向へ光6を放射させる光源3を基板裏面側に備え、画素電極12の電圧によって光学的に変化した前記センサ素子2を通過し偏光状態が変化した光を偏光板4に入射させ、偏光板4は偏光変化量に比例した光量に変換し、その光量を検出して電気信号に変換する光検出部5を備える。
請求項（抜粋）：
表面に少なくともゲート配線、ソース配線、画素電極及び薄膜トランジスタが形成されてなる液晶封入前の液晶ディスプレイ基板上に、前記各画素電極の電圧状態に応じて光学的特性を可変するセンサ装置を前記基板表面と離間又は当接するようにして配し、前記液晶ディスプレイ基板の基板裏面から表面方向へ所定の偏光状態の光を入射し、前記基板表面から出力された光を前記センサ装置に入射し、前記センサ装置からの出力光の偏光状態に基づき前記画素電極の電圧状態を検出することを特徴とする液晶ディスプレイ基板の検査方法。
IPC (5件)：
G02F 1/136 500
, G01R 31/00
, G01R 31/02
, G01R 31/28
, G02F 1/13 101
G02F 1/136 500
, G01R 31/00
, G01R 31/02
, G02F 1/13 101
, G01R 31/28
