特許
J-GLOBAL ID:200903056376456375
磁気テープの欠陥検査装置及び欠陥検査方法
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (5件):
小栗 昌平
, 本多 弘徳
, 市川 利光
, 高松 猛
, 濱田 百合子
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-193132
公開番号(公開出願番号):特開2006-017481
出願日: 2004年06月30日
公開日(公表日): 2006年01月19日
要約:
【課題】 磁気テープにおける正常部を欠陥部として誤って認識することを防止できるとともに、欠陥部の位置をより正確に検出することができる磁気テープの欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。【解決手段】 縞状のパターンが形成されたフィルタ24によって透過させた照射光を、磁気テープTの幅方向全体に照射し、磁気テープTにおける、照射光が照射された照射面Rとは反対側の面をバックアップロール12によって支持するとともに、照射面Rを撮影し、撮影された照射面Rの縞模様に基づいて欠陥部Tdを検出する。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
磁気テープを搬送させながら該磁気テープに光を照射し、照射した光の状態に基づいて欠陥部を検出する磁気テープの欠陥検査装置であって、
前記磁気テープの幅方向全体に照射光を照射する投光部材と、
前記磁気テープにおける前記照射光が照射された照射面を撮影する撮影部材と、
前記磁気テープにおける前記照射面の反対側の面を支持するバックアップロールとを備え、
前記投光部材には縞状のパターンが形成されたフィルタが設けられ、前記撮影部材によって撮影された前記照射面の縞模様に基づいて欠陥部を検出する処理部を備えていることを特徴とする磁気テープの欠陥検査装置。
IPC (1件):
FI (1件):
Fターム (9件):
2G051AA32
, 2G051AB07
, 2G051AB12
, 2G051BB07
, 2G051CA04
, 2G051CA07
, 2G051CB01
, 2G051DA06
, 2G051EA16
引用特許:
出願人引用 (1件)
-
磁気テープ検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-202984
出願人:ソニー株式会社
審査官引用 (10件)
-
表面検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-201411
出願人:富士写真フイルム株式会社
-
欠陥検査装置および欠陥検査方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-162153
出願人:ソニー株式会社
-
欠陥検出装置及び方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-305638
出願人:三菱レイヨン株式会社
全件表示
前のページに戻る