特許
J-GLOBAL ID：200903060149508714
散乱補正方法、散乱測定方法およびX線CT装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
有近 紳志郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-056083
公開番号（公開出願番号）：特開2006-239003
出願日： 2005年03月01日
公開日（公表日）： 2006年09月14日
要約：
【課題】マルチスライス撮影時における散乱を補正する。【解決手段】散乱を生じさせる物体であって被検体以外の物体である被検体外物(40〜42)の投影長pro_exを求め、撮影対象(α)の投影長pro_ptを求め、検出器厚doと同等のビーム厚で撮影対象(α)を撮影してデータI(do,do)を測定し、検出器厚doより厚いビーム厚dで撮影対象(α)を撮影してデータI(do,d)を測定し、両データI(do,do),I(do,d)の差に基づいて散乱量S(do,d)を求め、投影長和「pro_pt+pro_ex」に対応付けて記憶しておく。被検体を撮影してデータを収集した後、被検体の投影長pro_ptを求めると共に対応する被検体外物の投影長pro_exを求め、投影長pro_ptと投影長pro_exの和に対応する散乱量S(do,d)を読み出し、データを散乱補正する。【効果】散乱に起因するCT画像の画質の低下を抑制できる。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
被検体撮影時にX線通過経路に存在して無視できないX線散乱を生じさせる物体であって且つ被検体以外の物体である被検体外物の投影長pro_exを求め、撮影対象の投影長pro_ptを求め、前記被検体外物および前記撮影対象をX線通過経路に入れた状態で、検出器厚doと同等のビーム厚で撮影してデータI(do,do)を測定し、検出器厚doより厚いビーム厚dで撮影対象を撮影してデータI(do,d)を測定し、前記データI(do,do)と前記データI(do,d)の差に基づいて散乱量S(do,d)を求め、前記被検体外物の投影長pro_exと前記撮影対象の投影長pro_ptから前記散乱量S(do,d)を求めるための情報を記憶しておき、被検体を撮影してデータを収集し前記データから被検体の投影長pro_ptを求めると共に前記データに対応する被検体外物の投影長pro_exを求め、前記被検体の投影長pro_ptと前記被検体外物の投影長pro_exに対応する前記情報を読み出し該情報を用いて前記データを散乱補正することを特徴とする散乱補正方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (8件)：
4C093AA22
, 4C093CA07
, 4C093EB18
, 4C093FC26
, 4C093FD08
, 4C093FD11
, 4C093FD13
, 4C093GA01
出願人引用 (3件)
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X線CT装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平6-007831
出願人：株式会社日立メディコ
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X線CT装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平6-298089
出願人：株式会社日立メディコ
-
X線CT装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平10-115626
出願人：株式会社東芝
審査官引用 (12件)
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