特許
J-GLOBAL ID：200903065928623211

成分分析方法及び成分分析装置

発明者：
奥村 智洋

奥村 智洋 について

, 
齋藤 光央

齋藤 光央 について


出願人/特許権者：
松下電器産業株式会社

松下電器産業株式会社 について


代理人 (3件)： 河宮 治 ,  山田 卓二 ,  東島 隆治
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-008315
公開番号（公開出願番号）：特開2005-227274
出願日： 2005年01月14日
公開日（公表日）： 2005年08月25日
要約：
【課題】本発明は、分析操作の手順が簡単であり、短時間に分析ができ、また、低コストで分析処理を実現することのできる成分分析方法及び成分分析装置を提供すること。【解決手段】本発明の成分分析方法及び成分分析装置においては、被分析対象物体に近接して配置された大気圧プラズマ源2にヘリウムガスを供給しつつ、電源4より高周波電力を供給することにより、プラズマ5を発生させて、プラズマ5にさらされた被分析対象物体を発光させる。その光は光ファイバ6を通じてフィルタ7、フォトダイオード8に導かれて光電変換される。光電変換された信号が制御装置9に送られ、制御装置9は被分析対象物体に特定の元素が含まれているか否かを判定するよう構成されている。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
特定の元素に対して大気圧下でプラズマを照射したときの波長と発光強度との関係から発光強度のピーク値を有する特定の波長を選定する選定ステップ、 大気圧下でプラズマを被分析対象物体に照射し、前記選定ステップで選定された波長において前記被分析対象物体の発光強度を測定するモニタリングステップ、及び 前記モニタリングステップにおける測定された発光強度と、前記選定ステップにおける波長の発光強度とを比較して、前記被分析対象物体に含まれる前記元素の有無を判定する判定ステップ、 を有することを特徴とする成分分析方法。
IPC (1件)：
G01N21/71
FI (1件)：
G01N21/71
Fターム (13件)：
2G043AA03 ,  2G043BA01 ,  2G043CA02 ,  2G043CA05 ,  2G043GA07 ,  2G043GB11 ,  2G043HA05 ,  2G043JA02 ,  2G043KA02 ,  2G043KA03 ,  2G043KA05 ,  2G043LA01 ,  2G043LA07
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (9件)
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引用文献：
審査官引用 (3件)

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