特許
J-GLOBAL ID:200903068752713544

測距装置および測距方法並びにプログラム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 柳田 征史 ,  佐久間 剛 ,  福尾 勲将
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-254253
公開番号(公開出願番号):特開2009-085705
出願日: 2007年09月28日
公開日(公表日): 2009年04月23日
要約:
【課題】距離画像および輝度画像の双方を生成するに際し、高解像度の輝度画像を生成できるようにする。【解決手段】測距光照射部3が、所定周期にて強度変調された測距光を被写体に照射し、複数の受光素子が配列されたCCD13が被写体による測距光の反射光を受光し、受光光量に応じた信号を出力する。この際、撮像制御部19が、所定数の受光素子からなる受光素子単位にて、測距光の変調周期における互いに異なる複数の位相において反射光をそれぞれ受光して、複数の位相毎に信号を取得するようCCD13を制御する。距離画像生成部31が、複数の位相毎の信号に基づいて、受光素子単位にて被写体までの距離を表す距離情報を算出し、距離情報を各画素の情報とする距離画像を生成する。輝度画像生成部32が、複数の位相毎の信号に基づいて、受光素子単位にて被写体の輝度を表す輝度情報を複数算出し、各輝度情報を各画素の情報とする輝度画像を生成する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
所定周期にて強度変調された測距光を被写体に照射する測距光照射手段と、 前記被写体による前記測距光の反射光を受光し、受光光量に応じた受光信号を出力する複数の受光素子が2次元状に配列された撮像素子を有する撮像手段と、 所定数の前記受光素子からなる受光素子単位にて、前記測距光の変調周期における互いに異なる複数の位相において前記反射光をそれぞれ受光して、前記複数の位相毎に前記受光信号を取得するよう、前記測距光照射手段および前記撮像手段を制御する撮像制御手段と、 前記複数の位相毎の受光信号に基づいて、前記受光素子単位にて前記被写体までの距離を表す距離情報を算出し、該各距離情報を各画素の情報とする距離画像を生成する距離画像生成手段と、 前記複数の位相毎の受光信号に基づいて、前記受光素子単位にて前記被写体の輝度を表す輝度情報を複数算出し、該各輝度情報を各画素の情報とする輝度画像を生成する輝度画像生成手段とを備えたことを特徴とする測距装置。
IPC (3件):
G01S 17/36 ,  G01S 17/89 ,  G01C 3/06
FI (4件):
G01S17/36 ,  G01S17/89 ,  G01C3/06 120Q ,  G01C3/06 140
Fターム (30件):
2F112AD01 ,  2F112BA06 ,  2F112CA12 ,  2F112DA13 ,  2F112DA28 ,  2F112EA11 ,  2F112FA01 ,  2F112FA07 ,  2F112FA12 ,  2F112FA21 ,  2F112FA45 ,  2F112GA01 ,  2F112GA05 ,  5J084AA05 ,  5J084AA13 ,  5J084AD02 ,  5J084BA34 ,  5J084BA40 ,  5J084BB35 ,  5J084CA12 ,  5J084CA19 ,  5J084CA31 ,  5J084CA45 ,  5J084CA65 ,  5J084CA67 ,  5J084CA69 ,  5J084CA70 ,  5J084DA01 ,  5J084DA08 ,  5J084EA04
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • 画像処理装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2004-224480   出願人:松下電工株式会社
審査官引用 (15件)
  • 画像処理装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2004-224480   出願人:松下電工株式会社
  • 光量差補正方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2006-300944   出願人:シャープ株式会社
  • 特開平3-236689
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