ワンチップマイクロコントローラ及びそのシステム

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：笹島富二雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-092997
公開番号（公開出願番号）：特開2002-288048
出願日： 2001年03月28日
公開日（公表日）： 2002年10月04日
要約：

【要約】【課題】メモリの正常、異常を正確に診断できるワンチップマイクロコントローラ及びそのシステムを提供する。【解決手段】マイクロコントローラ1の論理部2は、内部RAM4の診断を行うアドレスに第1チェックデータ55Hを書き込んだ後、診断アドレスの最下位ビットから最上位ビットまでを1ビットずつ反転させた反転アドレスに第2チェックデータAAHを書き込む。その後、診断アドレスに書き込まれているチェックデータを読み出し、読み出したチェックデータが第1チェックデータ55Hであるか否かを判定する。

請求項（抜粋）：

アドレス毎にデータを記憶するメモリと、該メモリにアクセスして動作するプロセッサと、を同一半導体チップ内に備えたワンチップマイクロコントローラにおいて、前記プロセッサは、前記メモリの診断を行うアドレスに第1チェックデータを書き込んだ後、前記診断アドレスと異なる少なくとも1つのアドレスに前記第1チェックデータと異なる第2チェックデータを書き込むチェックデータ書き込み手段と、前記診断アドレスに書き込まれているチェックデータを読み出すチェックデータ読み出し手段と、該チェックデータ読み出し手段で読み出したチェックデータが、前記診断アドレスに書き込んだ第1チェックデータと一致するか否かを判定し、一致のときに正常、不一致のときに異常であると判定する判定手段と、を備えて構成したことを特徴とするワンチップマイクロコントローラ。

IPC (6件)：

G06F 12/16 330 , G06F 11/22 310 , G06F 11/22 350 , G06F 15/78 510 , G06F 15/78 , G11C 29/00 675

FI (6件)：

G06F 12/16 330 C , G06F 11/22 310 F , G06F 11/22 350 F , G06F 15/78 510 A , G06F 15/78 510 K , G11C 29/00 675 M

Fターム (16件)：

5B018GA03 , 5B018HA01 , 5B018JA05 , 5B018JA13 , 5B018MA32 , 5B018NA08 , 5B018QA13 , 5B048AA19 , 5B048CC02 , 5B048DD05 , 5B062CC01 , 5B062JJ05 , 5L106AA16 , 5L106DD22 , 5L106DD23 , 5L106GG07

引用特許：

審査官引用 (9件)

メモリ試験方法並びに試験装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-138938 出願人：三菱電機株式会社
RAMチェック方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平3-324944 出願人：富士通株式会社
メモリチェック方式
公報種別：公開公報出願番号：特願平11-155768 出願人：株式会社アドバンテスト

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