特許
J-GLOBAL ID:200903075797433638
コンタクトホールの形成方法
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
大垣 孝
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-109609
公開番号(公開出願番号):特開平10-303299
出願日: 1997年04月25日
公開日(公表日): 1998年11月13日
要約:
【要約】【課題】 ボーダーレスコンタクトホールの形成位置がずれたとしても、このホールが電極には達するが基板には達しないようにする。【解決手段】 下地15上に設けられた電極17xを覆う絶縁膜21に、この電極と電気的接続を行うためのコンタクトホール27を形成するにあたり、電極に接してエッチングストッパ層19xを形成した後、ボーダーレスコンタクトホールを形成のためのエッチングを行う。
請求項(抜粋):
下地上に設けられた電極を覆う絶縁膜に、該電極と電気的接続を行うためのボーダーレスコンタクトホールを形成するにあたり、前記絶縁膜の下側に、前記電極に接してエッチングストッパ層を予め形成しておいて、前記ボーダーレスコンタクトホール形成のためのエッチングを行うことを特徴とするコンタクトホールの形成方法。
IPC (2件):
H01L 21/768
, H01L 21/3065
FI (2件):
H01L 21/90 A
, H01L 21/302 J
引用特許:
出願人引用 (8件)
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半導体装置の製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-154765
出願人:三洋電機株式会社
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半導体装置の製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-154764
出願人:三洋電機株式会社
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バイアをつくる方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-104296
出願人:テキサスインスツルメンツインコーポレイテツド
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半導体装置および半導体装置の製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-011610
出願人:三菱電機株式会社
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特開昭59-169151
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薄膜の加工方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-279935
出願人:株式会社日立製作所, 日立超エル・エス・アイ・エンジニアリング株式会社
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半導体装置の製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-291962
出願人:日本電気株式会社
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半導体装置の製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-104686
出願人:三洋電機株式会社
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審査官引用 (8件)
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半導体装置の製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-154765
出願人:三洋電機株式会社
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半導体装置の製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-154764
出願人:三洋電機株式会社
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バイアをつくる方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-104296
出願人:テキサスインスツルメンツインコーポレイテツド
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半導体装置および半導体装置の製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-011610
出願人:三菱電機株式会社
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特開昭59-169151
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薄膜の加工方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-279935
出願人:株式会社日立製作所, 日立超エル・エス・アイ・エンジニアリング株式会社
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半導体装置の製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-291962
出願人:日本電気株式会社
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半導体装置の製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-104686
出願人:三洋電機株式会社
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