特許
J-GLOBAL ID：200903080424534209
試料濃度検出方法、装置およびプログラム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
吉田 研二
, 石田 純
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-321211
公開番号（公開出願番号）：特開2005-090999
出願日： 2003年09月12日
公開日（公表日）： 2005年04月07日
要約：
【課題】試料濃度に依存しない蛍光強度変動要因の影響を防止する試料濃度検出方法、装置およびプログラムの提供。【解決手段】CCDカメラ50から得た輝度値と励起光反射部位置との関係から反射励起光輝度データE(Xn,Yn)と蛍光輝度との理論上の検定線により全撮影箇所の理論上の理論蛍光輝度値データC(Xn,Yn)を演算する(S24)。次に、蛍光の画像輝度値を蛍光用CCDカメラ70で取得する(S26)。比較補正演算手段85はCCDカメラ70から実際の蛍光の輝度値データを得、理論輝度値演算手段84から送られた全撮影箇所の理論上の理論蛍光輝度値C(Xn,Yn)と比較し、その比較結果に基づいて実際の蛍光の輝度値データを補正し、その補正した蛍光輝度値データL(Xn,Yn)基づき、撮影箇所全体の酸素ガス濃度データO(Xn,Yn)を演算する(S30)。【選択図】図1D
請求項（抜粋）：
試料雰囲気中のワーク表面上に塗布された蛍光塗料面上に励起光を照射することにより蛍光を発生させ、この蛍光強度を取得することにより、前記ワーク表面の試料濃度を検出する試料濃度検出方法であって、
励起光の照射により発生した蛍光の蛍光強度を取得する蛍光強度取得工程と、
この蛍光強度を取得すると同時に、前記ワーク表面から試料濃度非依存による蛍光強度変動要因の影響を演算する変動要因演算工程と、
この蛍光強度変動要因の影響に基づいて、前記蛍光強度を補正する補正工程と、
補正後の蛍光強度に基づいて前記ワーク表面の試料濃度を判定する判定工程と、
を有する方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (19件)：
2G043AA01
, 2G043BA09
, 2G043CA01
, 2G043DA01
, 2G043DA04
, 2G043EA01
, 2G043FA03
, 2G043GA03
, 2G043GA08
, 2G043GB01
, 2G043GB21
, 2G043HA09
, 2G043JA03
, 2G043KA02
, 2G043KA05
, 2G043LA03
, 2G043MA01
, 2G043MA11
, 2G043NA01
出願人引用 (10件)
全件表示
審査官引用 (6件)
全件表示
引用文献：
前のページに戻る
