特許
J-GLOBAL ID：200903083025258124

光学式振動歪み計測装置

発明者：
野田 満靖

野田 満靖 について

, 
鈴木 道明

鈴木 道明 について


出願人/特許権者：
株式会社原子力安全システム研究所

株式会社原子力安全システム研究所 について


代理人 (1件)： 杉本 丈夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-131386
公開番号（公開出願番号）：特開2007-303917
出願日： 2006年05月10日
公開日（公表日）： 2007年11月22日
要約：
【課題】 高温の測定対象物にも適用でき、測定対象部位の変形を直接計測することにより、ノイズの少ない高精度な信頼性のある歪み計測をできるようにした光学式振動歪み計測装置を提供する。【解決手段】 一つのフォルダーに取り付けた少なくとも3基のレーザ変位計を用いて振動する測定対象部位の少なくとも3箇所の変形を測定し、各レーザ変位計により計測した変位の差から測定対象物に発生している振動変形による歪みを演算装置により演算する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
一つのフォルダーに取り付けた少なくとも3基のレーザ変位計を用いて振動する測定対象部位の少なくとも3箇所の変形を測定し、各レーザ変位計により計測した変位の差から測定対象物に発生している振動変形による歪みを演算装置により演算する構成としたことを特徴とする光学式振動歪み計測装置。
IPC (1件)：
G01B 11/16
FI (1件)：
G01B11/16 Z
Fターム (10件)：
2F065AA65 ,  2F065BB15 ,  2F065DD04 ,  2F065FF09 ,  2F065GG04 ,  2F065HH14 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ25 ,  2F065RR07 ,  2F065UU05
引用特許：
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (4件)
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