特許
J-GLOBAL ID：200903083545143346
支援装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
松井 伸一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-288529
公開番号（公開出願番号）：特開2007-101245
出願日： 2005年09月30日
公開日（公表日）： 2007年04月19日
要約：
【課題】包括的なパラメータ探索を行なうことができる知識作成支援装置を提供する。【解決手段】特徴量セット設定部15と、パラメータのセットを設定するパラメータセット設定部12と、パラメータセット設定手段で設定されたパラメータに基づき、時間軸と周波数軸で記述されるパラメータテーブルを生成し、与えられた波形データに対し、時間軸と周波数軸で特徴量を記述したデータ構造からなる特徴マトリックスを求める特徴マトリックス演算部18と、特徴マトリックス演算部で作成された特徴マトリックスを取得し、取得した特徴マトリックスの各周波数成分における時間軸の推移情報をスカラ量に変換する推移情報抽出処理演算部19と、特徴マトリックス並びに推移情報抽出処理演算部により求めた情報に基づいて、波形データについてのプロファイルデータを作成し、プロファイルデータベース22に登録するプロファイルデータ作成部21とを備えた。【選択図】図10
請求項（抜粋）：
検査対象から取得した波形データに対し、その波形データの特徴を表す特徴量を演算して得られた特徴量演算結果に基づいて、前記検査対象が正常か異常かの判断を行なう検査装置に設定する、前記判断に有効な特徴量および特徴量を演算するためのパラメータを決定するための情報を提供する支援装置であって、
ひとつ以上の特徴量を設定する特徴量設定手段と、
時間軸と周波数軸における分析範囲と分解能を設定するためのパラメータを設定するパラメータ設定手段と、
前記パラメータ設定手段で設定されたパラメータに基づき、時間軸と周波数軸で記述されるパラメータテーブルを生成し、与えられた波形データに対し、そのパラメータテーブルを構成する各パラメータ要素で規定される各領域ごとに前記特徴量設定手段で設定された特徴量を求めることで、時間軸と周波数軸で特徴量を記述したデータ構造からなる特徴マトリックスを求める特徴マトリックス演算手段と、
その特徴マトリックス演算部で求めた前記特徴マトリックスに基づいて、前記波形データについてのプロファイルデータを作成し、データベースに登録するプロファイルデータ作成手段と、
を備えたことを特徴とする支援装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01M19/00 Z
, G01H17/00 A
2G024AD22
, 2G024BA15
, 2G024BA27
, 2G024CA13
, 2G024DA09
, 2G024FA06
, 2G064AA14
, 2G064AB15
, 2G064AB22
, 2G064BA02
, 2G064CC01
出願人引用 (1件)
審査官引用 (10件)
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