特許
J-GLOBAL ID:200903093515593326
レジスト組成物およびその硬化方法
発明者:
,
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出願人/特許権者:
代理人 (2件):
志賀 正武
, 村山 靖彦
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-070444
公開番号(公開出願番号):特開2004-279694
出願日: 2003年03月14日
公開日(公表日): 2004年10月07日
要約:
【課題】半導体基板等の微細パタン形成において、レジスト膜の薄膜化を一層進めても、基板の欠陥形成を防止でき、高精度に基板加工できるレジスト組成物を提供する。【解決手段】本発明のレジスト組成物は、レジストと、フラーレンおよびフラーレン誘導体のいずれか一方または双方からなる微粒子と、架橋剤とを有する。また、架橋剤は、フラーレン誘導体、または、ボラジンあるいはボラゾール誘導体であることが好ましい。【選択図】 なし
請求項(抜粋):
レジストと、フラーレンおよびフラーレン誘導体のいずれか一方または双方からなる微粒子と、架橋剤とを有することを特徴とするレジスト組成物。
IPC (4件):
G03F7/004
, G03F7/039
, G03F7/40
, H01L21/027
FI (4件):
G03F7/004 501
, G03F7/039 601
, G03F7/40 501
, H01L21/30 502R
Fターム (16件):
2H025AA09
, 2H025AA10
, 2H025AC01
, 2H025AC06
, 2H025AD03
, 2H025BE00
, 2H025BE10
, 2H025BG00
, 2H025CB14
, 2H025CC09
, 2H025CC17
, 2H025CC20
, 2H096AA25
, 2H096BA09
, 2H096EA06
, 2H096HA03
引用特許:
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