特許
J-GLOBAL ID:200903093979276579

アモルファス酸化物半導体膜を用いた薄膜トランジスタの製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 西山 恵三 ,  内尾 裕一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-226698
公開番号(公開出願番号):特開2008-053356
出願日: 2006年08月23日
公開日(公表日): 2008年03月06日
要約:
【課題】 プロセスマージンが広く、特性に優れ、且つ信頼性の高い酸化物薄膜トランジスタを作成する。【解決手段】 アモルファス酸化物半導体膜からなる活性層を備えた薄膜トランジスタの製造方法であって、 前記活性層を形成する工程は、 導入酸素分圧が1×10-3Pa以下の雰囲気中で前記酸化膜を形成する第1の工程と、 前記第1の工程後、酸化雰囲気中で熱処理を行う第2の工程と、を含む。【選択図】 図6
請求項(抜粋):
In又はZnの少なくとも一方の元素を含むアモルファス酸化物半導体膜からなる活性層を備えた薄膜トランジスタの製造方法であって、 前記活性層を形成する工程は、 導入酸素分圧が1×10-3Pa以下の雰囲気中で前記酸化膜を形成する第1の工程と、 前記第1の工程後、酸化雰囲気中で熱処理を行う第2の工程と、 を含むことを特徴とする薄膜トランジスタの製造方法。
IPC (7件):
H01L 29/786 ,  H01L 21/336 ,  C23C 14/08 ,  C23C 14/54 ,  C23C 14/58 ,  H01L 21/363 ,  H01L 21/203
FI (7件):
H01L29/78 618B ,  H01L29/78 618A ,  C23C14/08 K ,  C23C14/54 B ,  C23C14/58 A ,  H01L21/363 ,  H01L21/203 S
Fターム (59件):
4K029AA09 ,  4K029AA24 ,  4K029BA50 ,  4K029BB10 ,  4K029BD01 ,  4K029CA05 ,  4K029DC05 ,  4K029DC09 ,  4K029DC35 ,  4K029EA03 ,  4K029EA08 ,  4K029GA00 ,  4K029GA01 ,  5F103AA08 ,  5F103DD30 ,  5F103GG03 ,  5F103HH01 ,  5F103HH04 ,  5F103HH05 ,  5F103LL07 ,  5F103NN04 ,  5F103NN05 ,  5F103PP03 ,  5F103RR04 ,  5F103RR05 ,  5F103RR07 ,  5F110AA16 ,  5F110CC05 ,  5F110CC07 ,  5F110DD01 ,  5F110DD02 ,  5F110EE02 ,  5F110EE03 ,  5F110EE04 ,  5F110EE07 ,  5F110EE14 ,  5F110EE43 ,  5F110FF01 ,  5F110FF02 ,  5F110FF27 ,  5F110FF28 ,  5F110GG04 ,  5F110GG15 ,  5F110GG28 ,  5F110GG29 ,  5F110GG42 ,  5F110GG43 ,  5F110GG58 ,  5F110HK02 ,  5F110HK03 ,  5F110HK04 ,  5F110HK21 ,  5F110HK32 ,  5F110NN01 ,  5F110NN22 ,  5F110NN23 ,  5F110NN34 ,  5F110NN35 ,  5F110QQ14
引用特許:
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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