特許
J-GLOBAL ID：200903094409486371
複屈折測定装置及び複屈折測定方法
発明者：
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
西山 恵三
, 内尾 裕一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-389419
公開番号（公開出願番号）：特開2004-205500
出願日： 2003年11月19日
公開日（公表日）： 2004年07月22日
要約：
【課題】 簡易な構成で短時間で複屈折を測定すること。【解決手段】 複屈折測定装置において、試料に略円偏光の光を入射させる入射ユニットと、試料からの光の偏光状態を検出するストークスメーターと、前記ストークスメーターから出力されたストークスパラメターに基づいて前記試料の複屈折を演算する演算部と、を有することを特徴とする構成とした。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
試料に略円偏光の光を入射させる入射手段と、
前記試料からの光の偏光状態を検出するストークスメーターと、
前記ストークスメーターからのストークスパラメターに基づいて前記試料の複屈折を演算する演算部と、を有することを特徴とする複屈折測定装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (17件)：
2G059AA02
, 2G059BB20
, 2G059DD11
, 2G059EE04
, 2G059FF01
, 2G059GG01
, 2G059GG04
, 2G059GG08
, 2G059HH03
, 2G059HH04
, 2G059JJ02
, 2G059JJ12
, 2G059JJ19
, 2G059JJ20
, 2G059JJ22
, 2G059JJ30
, 2G059KK04
出願人引用 (2件)
審査官引用 (9件)
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複屈折測定装置及び複屈折測定方法
公報種別：公開公報
出願番号：特願平9-312008
出願人：株式会社リコー
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特開昭63-103926
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複屈折測定装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平8-066071
出願人：有限会社ユニオプト
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