光ファイバセンサ装置および温度とひずみの計測方法と光ファイバセンサ

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：志賀正武 , 高橋詔男 , 渡邊隆
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-258816
公開番号（公開出願番号）：特開2010-091294
出願日： 2008年10月03日
公開日（公表日）： 2010年04月22日
要約：

【課題】本発明は、安価な構造で温度とひずみを同時に計測できる光ファイバセンサ装置の提供を目的とする。【解決手段】本発明は、OFDR方式に適用される光ファイバセンサ装置であって、光ファイバのコアに形成したFBGからなるひずみ検知用のセンサ部3と、該ひずみ検知用のセンサ部に接続されてその端部に反射部を備えた温度検知用光ファイバからなる温度検知用のセンサ部7とを具備した光ファイバセンサSと、参照用反射端16と、光源12と、受光器13とが備えられ、前記温度検知用光ファイバの光路長の変化量から温度変化を計測し、前記FBGのブラッグ波長のシフト量から前記計測された温度変化に相当するブラッグ波長のシフト量を減算することによりひずみを計測する。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

光ファイバのコアに形成したファイバブラッググレーティングをセンサとし、該センサからのブラッグ反射光と参照用の反射端からの反射光の干渉強度の周期的変化から、前記センサの位置を特定するとともに、前記センサからのブラッグ反射光の波長のシフト量からセンサ部のひずみを計測する光周波数領域反射測定方式に適用される光ファイバセンサ装置であって、光ファイバのコアに形成したファイバブラッググレーティングからなるひずみ検知用のセンサ部と、該ひずみ検知用のセンサ部に接続されてその端部に反射部を備えた温度検知用光ファイバからなる温度検知用のセンサ部とを具備した光ファイバセンサと、参照用反射端と、光源と、受光器とが備えられ、前記温度検知用光ファイバの光路長の変化量から温度変化を計測し、前記ファイバブラッググレーティングのブラッグ波長のシフト量から前記計測された温度変化に相当するブラッグ波長のシフト量を減算することによりひずみを計測することを特徴とする光ファイバセンサ装置。

IPC (3件)：

G01B 11/16 , G01D 5/353 , G01K 11/12

FI (3件)：

G01B11/16 G , G01D5/26 D , G01K11/12 F

Fターム (31件)：

2F056VF02 , 2F056VF03 , 2F056VF11 , 2F056VF16 , 2F056VF17 , 2F065AA65 , 2F065DD03 , 2F065DD06 , 2F065FF00 , 2F065FF41 , 2F065FF48 , 2F065FF51 , 2F065GG04 , 2F065GG25 , 2F065JJ05 , 2F065JJ18 , 2F065LL00 , 2F065LL02 , 2F065LL42 , 2F065NN06 , 2F065QQ01 , 2F065QQ03 , 2F065QQ16 , 2F065SS13 , 2F103BA37 , 2F103CA04 , 2F103CA06 , 2F103EC08 , 2F103EC09 , 2F103EC10 , 2F103GA15

引用特許：

出願人引用 (4件)

特許第3740500号公報
光ファイバセンサシステムおよび外力検知センサ
公報種別：公開公報出願番号：特願2004-239915 出願人：沖電気工業株式会社
ブラッググレーティング圧力センサ
公報種別：公開公報出願番号：特願平10-345238 出願人：富士電機株式会社

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審査官引用 (6件)

OFDR方式の多点歪計測装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2002-375302 出願人：独立行政法人航空宇宙技術研究所, 宇宙開発事業団, 有限会社データサイエンス
光FMCW後方散乱測定システムの校正
公報種別：公表公報出願番号：特願2007-530711 出願人：ライオステヒノロギーゲーエムベーハー
OFDR方式の歪連続分布計測装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2003-387041 出願人：独立行政法人宇宙航空研究開発機構, 有限会社データサイエンス

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