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J-GLOBAL ID:201102267528859999   整理番号:11A1269852

SiC表面の黒鉛化温度の酸素誘起低下

Oxygen-Induced Reduction of the Graphitization Temperature of SiC Surface
著者 (10件):
資料名:
巻: 50  号: 7,Issue 1  ページ: 070105.1-070105.6  発行年: 2011年07月25日 
JST資料番号: G0520B  ISSN: 0021-4922  CODEN: JJAPB6  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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SiCとO2系の間の固液相平衡では,(2+x)SiC+O2→(2+x)Si↑+ 2CO↑+ xC↓反応が起きる領域が存在する[Y.W.Song and F.W.Smith:J.Am.Ceram.Soc.88(2005)1864]。この領域への黒鉛化焼なましに用いる温度と酸素圧力を調整することにより,通常のエピタキシャルグラフェン法よりも250°C低い1000°CでSiC結晶上にエピタキシャルグラフェンを成長させることに成功した。Si基板及びSi技術との両立性を得る使命故に,低い黒鉛化温度を必要とする珪素上のエピタキシャルグラフェンの形成に本方法は特に有用である。(翻訳著者抄録)
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分類 (1件):
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薄膜成長技術・装置 
タイトルに関連する用語 (4件):
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