特許
J-GLOBAL ID:201103015519217490
X線回折装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
塩野入 章夫
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-332785
公開番号(公開出願番号):特開2002-139462
特許番号:特許第4502097号
出願日: 2000年10月31日
公開日(公表日): 2002年05月17日
請求項(抜粋):
【請求項1】 試料を支持する試料取付け部と、
前記試料取付け部に対して移動及び固定可能な固定部を備え、
前記固定部は、試料の側部と当接する複数の位置決めピン、当該位置決めピンを前記試料取付け部に形成した溝に沿って移動及び固定可能とするブロック、及び当該ブロックを前記溝の長手方向の任意の位置に固定する固定ネジを備え、
前記複数の位置決めピンは、前記ブロックによって試料取付け部に対してそれぞれ独立して位置決め自在とし、
前記ブロックを固定ネジによって前記溝に対して固定して、位置決めピンを試料の側部と当接状態で固定することによって試料を固定することを特徴とするX線回折装置。
IPC (1件):
FI (1件):
引用特許:
出願人引用 (12件)
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審査官引用 (11件)
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X線単結晶方位測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-343172
出願人:理学電機株式会社
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特開平3-095845
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結晶方位測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-173545
出願人:東芝エフエーシステムエンジニアリング株式会社
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