特許
J-GLOBAL ID：201103019545353110

タンデム型飛行時間型質量分析装置

発明者：
佐藤貴弥

佐藤貴弥 について


出願人/特許権者：
日本電子株式会社

日本電子株式会社 について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-281402
公開番号（公開出願番号）：特開2011-210698
出願日： 2010年12月17日
公開日（公表日）： 2011年10月20日
要約：
【課題】第1MSに所望する質量分解能を与える飛行距離よりも短い飛行距離のTOFMSを用いて、所望する質量分解能を与えることが可能なタンデムTOFMSを提供する。【解決手段】第1TOFMSでマススペクトルを測定する場合には反射場として働き、第1TOFMSでプリカーサイオンを選択する場合には、イオンを反射することなくイオンを通過させる反射場を、第1TOFMSの出口部に置いた。【選択図】図6
請求項（抜粋）：
サンプルをイオン化するイオン源と、 複数の扇形電場で構成され、生成したイオンを加速電圧で加速されたイオンが導入される第1の飛行時間型質量分析系と、 該第1の飛行時間型質量分析系により質量電荷比に応じて展開されたイオンを検出する第1の検出器と 前記第1の飛行時間型質量分析系により質量電荷比に応じて展開されたイオンの内、所定の質量電荷比を持つイオンのみを選択的に取り出すためのイオンゲートと、 前記イオンゲートを通過したプリカーサイオンを導入し開裂させてフラグメント化するイオン開裂手段と、 該イオン開裂手段の後段に置かれ、開裂したイオンの質量を分析する第2の飛行時間型質量分析系と、 該第2の飛行時間型質量分析系を通過したイオンを検出する第2の検出器と から成るタンデム型飛行時間型質量分析装置において、 前記第1の飛行時間型質量分析系の出口部に配置され第1の飛行時間型質量分析系内の軌道を正進してきたイオンを反射して軌道を逆進させる反射場であって、反射場としての働きをON、OFF可能な反射場と、 前記反射場により反射されて前記第1の飛行時間型質量分析系を逆進するイオンを前記第1の検出器に向けて取り出して入射させるイオン取り出し手段と、 前記第1の飛行時間型質量分析系と第1の検出器とを用いてマススペクトルを測定する場合には、前記反射場をONとすると共に、イオンが前記第1の飛行時間型質量分析系内を正進する時には正進させ、該反射場で反射され前記第1の飛行時間型質量分析系内の軌道を逆進するイオンについては、前記第1の検出器に向けて取り出して入射させるように前記イオン取り出し手段を制御する制御手段と を設けたことを特徴とするタンデム型飛行時間型質量分析装置。
IPC (3件)：
H01J 49/40 ,  H01J 49/06 ,  G01N 27/62
FI (4件)：
H01J49/40 ,  H01J49/06 ,  G01N27/62 K ,  G01N27/62 E
Fターム (7件)：
2G041CA01 ,  2G041GA06 ,  2G041GA09 ,  2G041GA29 ,  2G041KA01 ,  5C038FF07 ,  5C038FF10
引用特許：
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (5件)
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